IGBT開關(guān)的持續(xù)開通時(shí)間為50ms無需多個(gè)功率級(jí)電源
發(fā)布時(shí)間:2022/4/17 11:33:05 訪問次數(shù):959
晶閘管直流調(diào)速系統(tǒng)按可控整流電路,可分為單相可控整流電路和三相可控整流電路;按反饋回路數(shù)量,可分為單閉環(huán)系統(tǒng)和多閉環(huán)系統(tǒng);按所取反饋量的不同,可分為轉(zhuǎn)速負(fù)反饋、電壓負(fù)反饋、電流正反饋和電流負(fù)反饋等。
在單閉環(huán)調(diào)速系統(tǒng)中,分有靜差調(diào)速系統(tǒng)和無靜差調(diào)速系統(tǒng)。
單閉環(huán)有靜差調(diào)速系統(tǒng),在單閉環(huán)有靜差調(diào)速系統(tǒng)中有:
轉(zhuǎn)速負(fù)反饋有靜差調(diào)速系統(tǒng),是轉(zhuǎn)速負(fù)反饋有靜差調(diào)速系統(tǒng)。系統(tǒng)中各環(huán)節(jié)的穩(wěn)態(tài)關(guān)系如下:Δti=Is-σf
自動(dòng)量程輸出(如為電子負(fù)載,則為輸入)的特性。與傳統(tǒng)的矩形輸出/輸入特性的電源或負(fù)載相比,采用自動(dòng)量程技術(shù)的儀器在低電流下能夠支持更高電壓,在低電壓下能夠支持更高電流。
此外,具有自動(dòng)量程輸出/輸入的儀器可在相當(dāng)大的工作范圍內(nèi)提供/接受全功率輸出。
這與具有矩形輸出特性的儀器明顯不同形成對(duì)比,矩形輸出特性的儀器僅在最大電壓和電流時(shí)才以最大功率輸出.EA的自動(dòng)量程功能對(duì)測(cè)試工程師的好處是,可以使用更寬范圍的電壓和電流測(cè)試更多的應(yīng)用,而無需多個(gè)功率級(jí)電源。
通常器件飽和電壓上升了5%后認(rèn)為器件失效,一般而言測(cè)試需要的一定數(shù)量的樣品,通常選擇72個(gè)芯片,依照概率統(tǒng)計(jì)的方法選95%的置信度作為最后的統(tǒng)計(jì)值。
也就是說廠家給出的功率循環(huán)次數(shù)值其實(shí)是在某一置信度條件下的概率統(tǒng)計(jì)值,如果置信度給的不一樣,那最后的結(jié)果也會(huì)不一樣。在實(shí)際應(yīng)用中,如果僅僅測(cè)試幾個(gè)樣品,得到的結(jié)論往往是不夠全面。
一般廠家給出的測(cè)試周期是3秒,但在實(shí)際工作中, 例如風(fēng)力發(fā)電直驅(qū)機(jī)組,假設(shè)電機(jī)側(cè)電流周期大約10Hz,一個(gè)周波為0.1s,考慮一個(gè)IGBT開關(guān)的持續(xù)開通時(shí)間為50ms,在這個(gè)期間IGBT溫度持續(xù)上升,在下一個(gè)50ms該IGBT芯片持續(xù)降低。
晶閘管直流調(diào)速系統(tǒng)按可控整流電路,可分為單相可控整流電路和三相可控整流電路;按反饋回路數(shù)量,可分為單閉環(huán)系統(tǒng)和多閉環(huán)系統(tǒng);按所取反饋量的不同,可分為轉(zhuǎn)速負(fù)反饋、電壓負(fù)反饋、電流正反饋和電流負(fù)反饋等。
在單閉環(huán)調(diào)速系統(tǒng)中,分有靜差調(diào)速系統(tǒng)和無靜差調(diào)速系統(tǒng)。
單閉環(huán)有靜差調(diào)速系統(tǒng),在單閉環(huán)有靜差調(diào)速系統(tǒng)中有:
轉(zhuǎn)速負(fù)反饋有靜差調(diào)速系統(tǒng),是轉(zhuǎn)速負(fù)反饋有靜差調(diào)速系統(tǒng)。系統(tǒng)中各環(huán)節(jié)的穩(wěn)態(tài)關(guān)系如下:Δti=Is-σf
自動(dòng)量程輸出(如為電子負(fù)載,則為輸入)的特性。與傳統(tǒng)的矩形輸出/輸入特性的電源或負(fù)載相比,采用自動(dòng)量程技術(shù)的儀器在低電流下能夠支持更高電壓,在低電壓下能夠支持更高電流。
此外,具有自動(dòng)量程輸出/輸入的儀器可在相當(dāng)大的工作范圍內(nèi)提供/接受全功率輸出。
這與具有矩形輸出特性的儀器明顯不同形成對(duì)比,矩形輸出特性的儀器僅在最大電壓和電流時(shí)才以最大功率輸出.EA的自動(dòng)量程功能對(duì)測(cè)試工程師的好處是,可以使用更寬范圍的電壓和電流測(cè)試更多的應(yīng)用,而無需多個(gè)功率級(jí)電源。
通常器件飽和電壓上升了5%后認(rèn)為器件失效,一般而言測(cè)試需要的一定數(shù)量的樣品,通常選擇72個(gè)芯片,依照概率統(tǒng)計(jì)的方法選95%的置信度作為最后的統(tǒng)計(jì)值。
也就是說廠家給出的功率循環(huán)次數(shù)值其實(shí)是在某一置信度條件下的概率統(tǒng)計(jì)值,如果置信度給的不一樣,那最后的結(jié)果也會(huì)不一樣。在實(shí)際應(yīng)用中,如果僅僅測(cè)試幾個(gè)樣品,得到的結(jié)論往往是不夠全面。
一般廠家給出的測(cè)試周期是3秒,但在實(shí)際工作中, 例如風(fēng)力發(fā)電直驅(qū)機(jī)組,假設(shè)電機(jī)側(cè)電流周期大約10Hz,一個(gè)周波為0.1s,考慮一個(gè)IGBT開關(guān)的持續(xù)開通時(shí)間為50ms,在這個(gè)期間IGBT溫度持續(xù)上升,在下一個(gè)50ms該IGBT芯片持續(xù)降低。
熱門點(diǎn)擊
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