型號:SN74BCT8244ANT
類別:邏輯 - 專用邏輯
制造商:Texas Instruments
封裝:24-DIP(0.300",7.62mm)
描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
系列:74BCT
邏輯類型:掃描測試設(shè)備,帶緩沖器
電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
位數(shù):8
工作溫度:0°C ~ 70°C
安裝類型:通孔
封裝__外殼:24-DIP(0.300",7.62mm)
供應(yīng)商器件封裝:24-PDIP
包裝:管件
廠 商:TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
描 述:SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
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