型號:SN74BCT8374ADW
類別:邏輯 - 專用邏輯
制造商:Texas Instruments
封裝:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
系列:74BCT
邏輯類型:掃描測試設備,帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器
電源電壓:4.5 V ~ 5.5 V
位數:8
工作溫度:0°C ~ 70°C
安裝類型:表面貼裝
封裝__外殼:24-SOIC(0.295",7.50mm 寬)
供應商器件封裝:24-SOIC
包裝:管件
廠 商:TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
描 述:SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
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