固件開發(fā)和測試變得簡單易行磁場定向控制技術(shù)
發(fā)布時間:2021/9/14 18:35:30 訪問次數(shù):146
從源頭消除噪聲:降低噪音最根本的方式就是從源頭把這個噪聲消除,TI提供先生的算法來降低噪音的產(chǎn)生。
導致產(chǎn)生噪聲的一個常見問題是死區(qū)時間插入,這會導致電流波形失真。其中MCF8316A集成了死區(qū)時間補償,以消除驅(qū)動電機時由于死區(qū)時間造成的失真。
\兩款新產(chǎn)品,分別是MCF8316A和MCT8316A。前者采用磁場定向控制技術(shù),后者梯形控制技術(shù),無需傳感器,通過這兩款產(chǎn)品,可以把整個電機方案的尺寸減少70%。

制造商: Texas Instruments
產(chǎn)品種類: 16位微控制器 - MCU
RoHS: 詳細信息
系列: MSP430FR5728
安裝風格: SMD/SMT
封裝 / 箱體: TSSOP-28
核心: MSP430
程序存儲器大小: 16 kB
數(shù)據(jù)總線寬度: 16 bit
ADC分辨率: 10 bit
最大時鐘頻率: 8 MHz
數(shù)據(jù) RAM 大小: 1 kB
最小工作溫度: - 40 C
最大工作溫度: + 85 C
封裝: Reel
商標: Texas Instruments
ADC通道數(shù)量: 10 Channel
計時器/計數(shù)器數(shù)量: 3 Timer
產(chǎn)品類型: 16-bit Microcontrollers - MCU
工廠包裝數(shù)量: 2000
子類別: Microcontrollers - MCU
商標名: MSP430
看門狗計時器: No Watchdog Timer
零件號別名: MSP430FR5739IDAR
單位重量: 403 mg
為提高面向設計人員的易用性,新器件包括可編程模擬和數(shù)字模塊,可輕松定制智能模擬傳感器并將其集成于應用。另外,PMG1 MCU也可現(xiàn)場編程,支持簽名固件更新,從而提高效率。
ModusToolbox™集成開發(fā)環(huán)境為開發(fā)提供支持,里面集成了PMG1的軟件開發(fā)套件、原型設計套件以及快速啟動指南,共同為編程提供支持。
它們使得固件開發(fā)和測試變得簡單易行,從而進一步縮短總體開發(fā)時間和產(chǎn)品上市時間。

(素材來源:eepw和ttic.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝)
從源頭消除噪聲:降低噪音最根本的方式就是從源頭把這個噪聲消除,TI提供先生的算法來降低噪音的產(chǎn)生。
導致產(chǎn)生噪聲的一個常見問題是死區(qū)時間插入,這會導致電流波形失真。其中MCF8316A集成了死區(qū)時間補償,以消除驅(qū)動電機時由于死區(qū)時間造成的失真。
\兩款新產(chǎn)品,分別是MCF8316A和MCT8316A。前者采用磁場定向控制技術(shù),后者梯形控制技術(shù),無需傳感器,通過這兩款產(chǎn)品,可以把整個電機方案的尺寸減少70%。

制造商: Texas Instruments
產(chǎn)品種類: 16位微控制器 - MCU
RoHS: 詳細信息
系列: MSP430FR5728
安裝風格: SMD/SMT
封裝 / 箱體: TSSOP-28
核心: MSP430
程序存儲器大小: 16 kB
數(shù)據(jù)總線寬度: 16 bit
ADC分辨率: 10 bit
最大時鐘頻率: 8 MHz
數(shù)據(jù) RAM 大小: 1 kB
最小工作溫度: - 40 C
最大工作溫度: + 85 C
封裝: Reel
商標: Texas Instruments
ADC通道數(shù)量: 10 Channel
計時器/計數(shù)器數(shù)量: 3 Timer
產(chǎn)品類型: 16-bit Microcontrollers - MCU
工廠包裝數(shù)量: 2000
子類別: Microcontrollers - MCU
商標名: MSP430
看門狗計時器: No Watchdog Timer
零件號別名: MSP430FR5739IDAR
單位重量: 403 mg
為提高面向設計人員的易用性,新器件包括可編程模擬和數(shù)字模塊,可輕松定制智能模擬傳感器并將其集成于應用。另外,PMG1 MCU也可現(xiàn)場編程,支持簽名固件更新,從而提高效率。
ModusToolbox™集成開發(fā)環(huán)境為開發(fā)提供支持,里面集成了PMG1的軟件開發(fā)套件、原型設計套件以及快速啟動指南,共同為編程提供支持。
它們使得固件開發(fā)和測試變得簡單易行,從而進一步縮短總體開發(fā)時間和產(chǎn)品上市時間。

(素材來源:eepw和ttic.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝)