通過搭載先進(jìn)的片上ISP算法運(yùn)用自動增益控制（AGC）、自動曝光控制（AEC）、降噪、邊緣增強(qiáng)等先進(jìn)功能去除噪聲、凸顯重要細(xì)節(jié)，顯著提高圖像質(zhì)量，以更好地滿足DMS/OMS智能座艙系統(tǒng)對影像的高精度需求。

DMS/OMS系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)會遇到很多特殊場景，如順光時(shí)容易出現(xiàn)的強(qiáng)光過曝，逆光時(shí)容易造成的過暗畫面，先進(jìn)的ISP算法能夠有效提亮暗光，抑制強(qiáng)光，從而在光線劇烈變化的場景下，仍能拍攝出清晰的圖像，進(jìn)一步提高智能座艙系統(tǒng)對復(fù)雜交通場景的應(yīng)對能力。

SEM鏡筒內(nèi)置新開發(fā)的超級圓錐透鏡系統(tǒng)，大大提高了低加速電壓下的圖像分辨率。這種出色的成像性能對于利用SEM檢查薄片樣品的端點(diǎn)研磨狀態(tài)非常有用。

JIB-PS500i采用了大型樣品室和新開發(fā)的樣品平臺，增加了平臺的移動范圍，因此可以容納大型樣品。

新開發(fā)的STEM檢測器可以在平臺傾斜90度時(shí)使用，支持從TEM樣品制備到STEM觀察的無縫過渡。

圖形界面操作采用了在JSM-IT800系列高分辨率掃描電子顯微鏡中廣受好評的“SEM中心”，全面集成EDS分析。

AS5911比當(dāng)前常見的CT探測器專用ADC產(chǎn)品更小，占用空間更少，可集成到各種尺寸的探測器中，包括四邊可拼接解決方案，這得益于縮減了外部物料清單（BOM）和嵌入式組件。

AS5911通過集成LDO穩(wěn)壓器、參考電壓、溫度傳感器、電源去耦電容器和片上校準(zhǔn)功能，降低了系統(tǒng)復(fù)雜性。

專有的ADC架構(gòu)具有零停滯時(shí)間，很好地兼顧了功率噪聲性能。在低噪聲模式下，輸入電流范圍為0.5µA時(shí)，輸入?yún)⒖荚肼暤陀?.29fC。低噪聲是高性能CT探測器的標(biāo)志，對成像質(zhì)量至關(guān)重要，特別是在低X射線劑量下。

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