將C-V測量值移動到任何設(shè)備終端而無需重新連接或抬起探針
發(fā)布時間:2024/6/10 0:31:07 訪問次數(shù):73
電容通常隨所施加的電壓而變化.因此,完整的表征需要了解在最大額定電壓下的電容。
使用4200A-CVIV開關(guān)提供的偏置功能以及在Clarius中測量CISS 、COSS和CRSS的。
CVIV可以很容易地在I-V和C-V測量值之間切換,它還可以將C-V測量值移動到任何設(shè)備終端,而無需重新連接或抬起探針。
所有SMU和CVU連接都是通過4200A-CVIV進行連接的。CVIV可以有一個4210-CVU或4215-CVU,最多可以有四個SMU連接到一個設(shè)備上。
使用4200A-CVIV提供了以下優(yōu)點:
內(nèi)置項目可測量高達200V和400V的CISS、 CRSS和COSS。
4200A-CVIV開關(guān)支持自動測量。不需要重新連接設(shè)備或電纜。
開路和短路的C-V補償。
MOSFET與CVIV的連接。對于這個特定的應(yīng)用程序,至少需要三個SMU和一個CVU來完成測試。
顯示了封裝的MOSFET的實際CVIV連接。請注意,CVIV 上的所有通道都是打開的。4200A-CVIV 的四個通道將根據(jù)每次測試的配置進行配置,因此每次測試都不需要電纜重新連接。
此外,方案利用先進的跳頻技術(shù),允許用戶預(yù)設(shè)特定跳頻點,主動避開可能引發(fā)共振的頻率區(qū)域,從而避免共振導(dǎo)致的機械振動、噪音增大以及潛在設(shè)備損傷,確保系統(tǒng)運行平順且無故障風(fēng)險。
儀器的直流輸出電壓如何從200V 加到400V,進行漏極上更高電壓的測量,這有利于測試更高功率的半導(dǎo)體,如GaN器件。該功能已在Clarius V1.6以上的版本添加并更新。
深圳市裕碩科技有限公司http://yushuo.51dzw.com
電容通常隨所施加的電壓而變化.因此,完整的表征需要了解在最大額定電壓下的電容。
使用4200A-CVIV開關(guān)提供的偏置功能以及在Clarius中測量CISS 、COSS和CRSS的。
CVIV可以很容易地在I-V和C-V測量值之間切換,它還可以將C-V測量值移動到任何設(shè)備終端,而無需重新連接或抬起探針。
所有SMU和CVU連接都是通過4200A-CVIV進行連接的。CVIV可以有一個4210-CVU或4215-CVU,最多可以有四個SMU連接到一個設(shè)備上。
使用4200A-CVIV提供了以下優(yōu)點:
內(nèi)置項目可測量高達200V和400V的CISS、 CRSS和COSS。
4200A-CVIV開關(guān)支持自動測量。不需要重新連接設(shè)備或電纜。
開路和短路的C-V補償。
MOSFET與CVIV的連接。對于這個特定的應(yīng)用程序,至少需要三個SMU和一個CVU來完成測試。
顯示了封裝的MOSFET的實際CVIV連接。請注意,CVIV 上的所有通道都是打開的。4200A-CVIV 的四個通道將根據(jù)每次測試的配置進行配置,因此每次測試都不需要電纜重新連接。
此外,方案利用先進的跳頻技術(shù),允許用戶預(yù)設(shè)特定跳頻點,主動避開可能引發(fā)共振的頻率區(qū)域,從而避免共振導(dǎo)致的機械振動、噪音增大以及潛在設(shè)備損傷,確保系統(tǒng)運行平順且無故障風(fēng)險。
儀器的直流輸出電壓如何從200V 加到400V,進行漏極上更高電壓的測量,這有利于測試更高功率的半導(dǎo)體,如GaN器件。該功能已在Clarius V1.6以上的版本添加并更新。
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