擴展到系統(tǒng)級的基礎結構是提供單點接入到多掃描鏈，以支持隔離的診斷能力。這可以用于cpld和fpga系統(tǒng)內(nèi)配置的最佳化，以及編程閃存時存儲器讀/寫周期的最佳化。

　　它也支持板到板內(nèi)連測試(用于背投內(nèi)連失效診斷)到端口連接器引腳級。另一個優(yōu)點是在產(chǎn)品裝運前提供系統(tǒng)測試，這包括固件檢驗和簡化固件更新。

　　擴展邊界掃描到系統(tǒng)級提供執(zhí)行嵌入式測試結構(即器件級bist)的基礎結構，這可在epga、asic和soc中實現(xiàn)。

　　另外，它提供單點接入能力來支持環(huán)境重點測試和精確的引腳級診斷。

　　拓撲結構

　　選擇邊界掃描系統(tǒng)結構對于路由tap測試接入端口是重要的，并將確定選擇哪些系統(tǒng)級器件。有三種主要的tap路由方式：ring(環(huán)狀)star(星狀)multi-drop(多分接)

　　當然，多分接方式是最廣泛用于可靠系統(tǒng)控制的。在這種方式中，5個主要的ieee1149.1測試接入信號(tck，tms，tdi，tdd，test)并聯(lián)連接到系統(tǒng)配置的所有背板槽中。

　　多分接配置中的每個槽都有一個專門的地址，槽地址多達64/128個專門地址，通常，這些地址在背板中用硬線連接(見圖1)

　　通過總體掃描鏈的tdi信號線，廣播每個板的專門背板地址來接入系統(tǒng)中的每塊板。對應于廣播地址的置于槽中的板，將喚醒并允許接入到本地掃描鏈，這如同用系統(tǒng)器件接入?yún)f(xié)議進行選擇哪樣。

　　支持器件

　　對邊界掃描系統(tǒng)級測試能力的需求增加，促進開發(fā)各種支持器件，如3和4端口網(wǎng)關，掃描通路線路和多掃描端口。

　　根據(jù)設計結構要求，可得到封裝類型、大小和工作電壓不同的器件。一些供應商也提供象ip那樣的器件功能，可用cpld、fpga或asic器件嵌入ip。

　　這些器件的重要功能是提供從主邊界掃描總線到特定本地掃描鏈(lsl)的接入，這如同系統(tǒng)級器件協(xié)議選擇那樣。掃描鏈不是單獨選擇就是任意組合中的菊花鏈，這為測試分配提供了靈活性(見圖2)。

　　這對于支持閃存器件系統(tǒng)內(nèi)編程而分配板設計是有用的。在這些環(huán)境下，在板上圍繞邊界掃描移位的向量數(shù)應該保持絕對最少，以使閃存編程周期時間最佳。

　　閃存編程

　　理想情況，對于閃存而言，具有對閃存地址、數(shù)據(jù)和控制信號網(wǎng)直接接入的邊界掃描器件可放置在單個lsc上。此lsc只在閃存編程相被選擇。換句 話說，為執(zhí)行板級內(nèi)連測試選擇所有l(wèi)sc或為執(zhí)行功能邏輯組測試可選擇專門的lsc。在此，假設用外部邊界掃描控制器驅動測試圖形或向量，通過總體掃描鏈 基礎結構到各個板。

　　一些嵌入式控制結構通常在iee1149.1系統(tǒng)測試配置中實現(xiàn)，在嵌入式邊界掃描控制器件的控制下，這種結構將允許測試向量的時序，測試向量一般存儲在閃存中。

　　嵌入式控制器可按排在單系統(tǒng)主機板上或安排在系統(tǒng)環(huán)境中的多板上，它支持嵌入向量輸送方法。這最普通的是系統(tǒng)總線主機結構。

　　系統(tǒng)測試總線主機

　　在此，背板中的一個模件是系統(tǒng)主機，而其他模件變成從機(見圖3)。用于測試從模件或多板中執(zhí)行測試的邊界掃描向量安排在系統(tǒng)主機板上的閃存中。

　　在位于系統(tǒng)主機板上的嵌入式掃描控制器件的控制下，這些向量通過總體掃描鏈發(fā)送。這種系統(tǒng)級基礎結構可用于執(zhí)行從靜態(tài)結構測試到嵌入式以bist速度的測試。這也可以在現(xiàn)場更新可編程邏輯器件中的系統(tǒng)操作固件和配置碼的修改版本。

　　用商用軟件工具，在實踐中實現(xiàn)所設計的理論性測試方法是可能的。這要考慮不同系統(tǒng)級結構的支持以及系統(tǒng)接口器件和測試配置的各種組合。

　　外部控制

　　圖4給出在采用外部控制器時測試向量開發(fā)的數(shù)據(jù)流程，外部控制器包括配備pci邊界掃描控制卡的pc。一旦進行測試的檢驗，同樣的測試向量格式存儲在閃存中，在掃描主機的控制下廣播到系統(tǒng)的從機板/模件。

　　圖4示出在嵌入式系統(tǒng)主機測試處理器的控制下ns公司的scanease軟件驅動器如何用于控制向量傳遞。嵌入式向量來自同一atpg(自動測試程序產(chǎn)生器)輸出，這原來是為外部邊界掃描測試開發(fā)的。其他測試總線控制器廠家(如firecron公司)也提供類似的驅動器。

　　這種系統(tǒng)級嵌入式ieee1149.1測試方法可提供全面的系統(tǒng)自測試。它為所有測試時序提供合格/失效狀態(tài)。然而，所面對的是診斷出有故障的線路可替代單元，將返回到中心維修實驗室進行引腳