由于嵌入式軟件與其他產(chǎn)品息息相關(guān)，這給嵌入式軟件的測(cè)試工作帶來了極大的困難，軟件的測(cè)試工作不能夠等程序燒到或者固化到芯片中才開始進(jìn)行測(cè)試，這就太晚了，本文結(jié)合自己的一些經(jīng)驗(yàn)提出自己的看法，希望大家一起討論。

搞好開發(fā)前的原型設(shè)計(jì)

　　原型開發(fā)目前在開放流程中受到了更多的重視，同樣嵌入式軟件也是非常需要的。比如說一個(gè)錄音機(jī)版面的設(shè)計(jì)，可以定義好版面上面的按鍵以及每個(gè)按鍵的功能。然后畫出狀態(tài)轉(zhuǎn)化圖，寫清楚每個(gè)按鍵何時(shí)可以觸發(fā)，觸發(fā)后由哪個(gè)狀態(tài)轉(zhuǎn)入別的其他狀態(tài)。原型設(shè)計(jì)好了，組織專家，工程師進(jìn)行評(píng)審，盡可能多的找出原型中不合理需要改進(jìn)的地方；改進(jìn)以后，有必要可以進(jìn)行再一次的評(píng)審工作。每一次評(píng)審工作需要記錄評(píng)審建議是否需要解決？如何解決以及實(shí)際解決情況。

進(jìn)行設(shè)計(jì)和開發(fā)工作

　　設(shè)計(jì)和開發(fā)工作需要設(shè)立里程碑。每個(gè)里程碑結(jié)束前都需要進(jìn)行評(píng)審工作。由于嵌入式軟件的運(yùn)行環(huán)境不同，受到很大的限制，所以在進(jìn)行開發(fā)之前需要進(jìn)行編程規(guī)范工作，編碼的時(shí)候需要嚴(yán)格按照編碼要求進(jìn)行工作，每一個(gè)條款都需要認(rèn)真執(zhí)行和審查。現(xiàn)在業(yè)界提供許多關(guān)于嵌入式軟件開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)，大家可以通過網(wǎng)站搜索，最好能夠購(gòu)買業(yè)界一些比較著名的標(biāo)準(zhǔn)。

　　目前市場(chǎng)上也提供許多關(guān)于代碼檢驗(yàn)的工具。為什么一直提出代碼編碼規(guī)范？這是因?yàn)榍度胧杰浖馁|(zhì)量與代碼規(guī)范是十分重要的。舉個(gè)例子，著名的阿里亞火箭失事，專家進(jìn)行詳細(xì)的調(diào)查工作，最后發(fā)現(xiàn)問題出在代碼上。代碼是符合標(biāo)準(zhǔn)c語(yǔ)言的，但是在運(yùn)行過程中由于程序員將一個(gè)長(zhǎng)整形變量賦給了一個(gè)短整形變量，造成內(nèi)存溢出，這是導(dǎo)致火箭失事的關(guān)鍵所在。

（

int8 a;

int32 b;

…

a=b;

）

代碼測(cè)試

　　當(dāng)程序開發(fā)完畢，需要進(jìn)行測(cè)試工作，但是在程序燒入或固化芯片之前如何進(jìn)行測(cè)試呢？這里介紹一種方法：比如程序時(shí)使用c語(yǔ)言進(jìn)行開發(fā)的，請(qǐng)將所有的操作都封入在函數(shù)中，函數(shù)的定義都在相應(yīng)的頭文件中定義(.h),然后設(shè)計(jì)測(cè)試用例，書寫測(cè)試代碼，測(cè)試代碼包含相應(yīng)頭文件，可以對(duì)函數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。測(cè)試案例往往分為兩類：一種是功能測(cè)試，主要測(cè)試函數(shù)的功能；另外一種是錯(cuò)誤參數(shù)測(cè)試，主要檢查程序?qū)M(jìn)行錯(cuò)誤參數(shù)進(jìn)行檢驗(yàn)。

功能測(cè)試

　　這種測(cè)試的運(yùn)行往往需要通過仿真器輔助完成，比如類似錄音機(jī)軟件程序，分別測(cè)試播放，加大（減�。┮袅�，停止，暫停（取消暫停），快速前進(jìn)，快速后退，錄音對(duì)應(yīng)的功能是否能夠正常運(yùn)行。

錯(cuò)誤測(cè)試

　　主要測(cè)試函數(shù)在調(diào)用參數(shù)無效的時(shí)候，系統(tǒng)是否會(huì)按照規(guī)定返回正確的錯(cuò)誤代碼。比如

　　function test(int tid)

　　測(cè)試的時(shí)候給出一個(gè)錯(cuò)誤的序列號(hào)(tid),看程序是否返回正確的錯(cuò)誤代碼。

　　對(duì)于函數(shù)function test1(int t)需要進(jìn)行特出的處理

　　t 定義為1-100

　　我們可以按照邊界值法和等價(jià)分類法進(jìn)行測(cè)試

　　上邊界:-1,0,1

　　下邊界：99，100，101

　　中邊界：50

　　所以測(cè)試用例集合為（-1,0,1,50,99,100,101）,其中-1，101為錯(cuò)誤測(cè)試用例，其他為正確測(cè)試用例

功能組合測(cè)試

　　在進(jìn)行完功能測(cè)試后，我們可以進(jìn)行功能組和測(cè)試，還是拿錄音機(jī)程序做個(gè)例子。我們可以定義將音量增加到10，快速前進(jìn)，檢查音量，看是否還是為10；播放，暫停，試圖調(diào)整音量，檢查調(diào)整音量的功能是否可以被成功執(zhí)行。

燒入固化測(cè)試

　　當(dāng)以上測(cè)試都通過后可以將程序燒入芯片或者固化，進(jìn)行最后在實(shí)際環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試工作。

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