UV-EPROM的單元結(jié)構(gòu)
發(fā)布時(shí)間:2008/11/18 0:00:00 訪問次數(shù):566
uv eprom的單元結(jié)構(gòu)如圖所示。其基本結(jié)構(gòu)與在下一章中說明的閃速存儲(chǔ)器相同。uv-eprom的存儲(chǔ)單元是由mosfet(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)構(gòu)成的,在它的控制柵和n溝道間有一個(gè)稱為浮置柵的特殊柵極,這是uv-eprom單元結(jié)構(gòu)的主要特征。
圖 uv-eprom的單元結(jié)構(gòu)
由于浮置柵利用氧化膜使柵極與基板絕緣,使存儲(chǔ)于此處的電荷不能被輕易釋放,從而達(dá)到持續(xù)保存記憶的目的。與閃速存儲(chǔ)器相同,通過浮置柵中是否存儲(chǔ)電荷,利用fet(場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的閾值電壓的變化,進(jìn)行高電平與低電平的判斷。一般地講,uv一eprom在擦除狀態(tài)(浮置柵中未存儲(chǔ)電荷的狀態(tài))時(shí),讀出“高電平”;而在存儲(chǔ)電荷狀態(tài)時(shí),讀出“低電平”。
歡迎轉(zhuǎn)載,信息來源維庫電子市場(chǎng)網(wǎng)(www.dzsc.com)
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圖 uv-eprom的單元結(jié)構(gòu)
由于浮置柵利用氧化膜使柵極與基板絕緣,使存儲(chǔ)于此處的電荷不能被輕易釋放,從而達(dá)到持續(xù)保存記憶的目的。與閃速存儲(chǔ)器相同,通過浮置柵中是否存儲(chǔ)電荷,利用fet(場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的閾值電壓的變化,進(jìn)行高電平與低電平的判斷。一般地講,uv一eprom在擦除狀態(tài)(浮置柵中未存儲(chǔ)電荷的狀態(tài))時(shí),讀出“高電平”;而在存儲(chǔ)電荷狀態(tài)時(shí),讀出“低電平”。
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