1．射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試的目的

　　射頻輻射電磁場(chǎng)對(duì)設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用移動(dòng)電話、無線電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)無線電發(fā)射機(jī)等電磁輻射源產(chǎn)生的（以上屬有意發(fā)射），汽車點(diǎn)火裝置、電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射（以上屬無意發(fā)射）也都會(huì)產(chǎn)生射頻輻射干擾。測(cè)試的目的是為了建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來評(píng)價(jià)電氣和電子產(chǎn)品或系統(tǒng)的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。

　　2．測(cè)試儀器

　�。�1）信號(hào)發(fā)生器（主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動(dòng)或手動(dòng)掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可設(shè)定、信號(hào)的幅度能自動(dòng)控制等）。

　�。�2）功率放大器（要求在1m法、3m法或10m法①的情況下，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場(chǎng)強(qiáng)。對(duì)于小產(chǎn)品，也可以采用lm法進(jìn)行測(cè)試，但當(dāng)lm法和3m法的測(cè)試結(jié)果有出入時(shí)，以3m法為準(zhǔn)）。

　　（3）天線（在不同的頻段下使用雙錐和對(duì)數(shù)周期天線，國(guó)外已有在全頻段內(nèi)使用的復(fù)合天線）。

　�。�4）場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試探頭。

　　（5）場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試與記錄設(shè)各。在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計(jì)、計(jì)算機(jī)（包括專用的控制軟件）、場(chǎng)強(qiáng)探頭的自動(dòng)行走機(jī)構(gòu)等，可構(gòu)成一個(gè)完整的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

　�。�6）電波暗室，為了保證測(cè)試結(jié)果的可比性和重復(fù)性，要對(duì)測(cè)試場(chǎng)地的均勻性進(jìn)行校驗(yàn)。

　�。�7）橫向電磁波室（tem小室）、帶狀線天線、平行板天線。

　　3．輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試方法

　　按照標(biāo)準(zhǔn)iec610004－3的規(guī)定，輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試時(shí)，要用1khz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制，調(diào)制深度為80％，參見圖1（在早期的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中不需要調(diào)制）。將來有可能再增加一項(xiàng)鍵控調(diào)頻，調(diào)制頻率為200hz，占空比為1：1。

　　圖1信號(hào)發(fā)生器的輸出電壓波形

　　測(cè)試應(yīng)在電波暗室中進(jìn)行（圖2），用監(jiān)視器監(jiān)視試品的工作情況（或從試品引出可以說明試品工作狀態(tài)的信號(hào)至測(cè)定室，由專門儀器予以判定）。暗室內(nèi)有天線（包括天線的升降塔）、轉(zhuǎn)臺(tái)、試品及監(jiān)視器。工作人員、測(cè)定試晶性能的儀器、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)和計(jì)算機(jī)等設(shè)備放在測(cè)定室里，高頻功率放大器則放在功放室里。測(cè)試中，對(duì)試品的布線非常講究，應(yīng)記錄在案，以便必要時(shí)重現(xiàn)測(cè)試結(jié)果。

　　圖2 射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試配置

　　場(chǎng)強(qiáng)、測(cè)試距離與功率放大器的關(guān)系見表（僅供參考）。

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