光相位調制檢測技術是被測參量的變化引起光波相位變化，通過檢測光波相位變化而測量被測參量的技術。AD515AJH用光相位調制原理來實現對一些參量的檢測往往具有更高的檢測靈敏度和精度，被廣泛應用于許多精密測試系統中。下面介紹基于光相位調制的檢測系統的原理、設計與應用。

   光相位調制的調制和解調

   光相位的調制是各種被測參量（如位移、溫度、應力應變、壓力、介質密度，甚至電場、磁場等）通過直接或間接對光傳播途徑上光程的影響，從而引起光相位的變化。光相位的解調是利用光的干涉效應（各種干涉儀）把光波間的相對相位關系轉換為光強度的空間或時間的變化，再通過光電檢測器件檢測光強變化，實現對光相位變化的檢測。

    獲得高質量的干涉信號是保證檢測精度與檢測系統可靠工作的必要條件。干涉信號的調制度是反映干涉信號質量的重要指標，干涉信號的調制度表示為干涉信號的最大光強；/mi。為干涉信號的最小光強。

   調制度肘的值在0~1之間變化，當M=l時，獲得的干涉條紋信號質量最好；當M=O時，干涉條紋信號的可見度為零，此時無法得到干涉倍號。

   影響干涉信號調制度的重要因素有：①光源的相干性：②干涉光束相干性要求；③光電轉換和信號檢測部分。