設(shè)置容差參數(shù)包括確定參數(shù)變化模式， BS62LV8001EI-70以及指定容差大小兩項內(nèi)容。

   (1)參數(shù)變化模式的描述

   DEV模式：器件容差模式，又稱為獨立變化模式。如果生產(chǎn)的一批電路產(chǎn)品中，對應(yīng)電路設(shè)計中同一個元器件的值相互獨立，存在分散性，則稱為獨立變化模式。

   LOT模式：批容差模式，又稱為同步變化模式。用于描述集成電路生產(chǎn)過程中，不同批次之間的元器件參數(shù)的容差可以同時變化，即它們的值同時變大或變小。

   組合模式：組合使用時，元器件首先按LOT模式變化，然后再按DEV模式變化。

   如何設(shè)置模型參數(shù)的變化模式應(yīng)根據(jù)實際情況確定。如果設(shè)計的電路要用印制電路板(PCB)裝配，則不同PCB中針對電路設(shè)計中同一個元器件采用的元器件參數(shù)將獨立隨機變化，就只需要選用DEV模式。但是如果在集成電路生產(chǎn)中，不同批次之間的元器件參數(shù)還存在起伏波動，就應(yīng)該加上LOT模式，即采用組合模式。

   (2)容差大小的設(shè)置

   在描述參數(shù)變化規(guī)律的關(guān)鍵詞DEV和LOT后面，應(yīng)給出表示容差范圍的數(shù)值。著數(shù)值后跟有百分號“%”，則代表相對變化百分?jǐn)?shù)，否則僅表示變化容差的大小。