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帶恒流源式差分放大電路

發(fā)布時間:2015/8/27 21:52:41 訪問次數(shù):3200

   1.開啟cadence/release 16.6/OrCAD Capture,新建一個仿真工程后, A3P125-VQ100在Capture的原理圖繪制窗口中繪制如圖5.2.1所示的電路。圖中所用到的器件信息如表5.2.1歷示。

   圖5.2.1  帶恒流源式差分放大電路

      

    2.利用PSpice提供的直流工作點分析(Bias Point)工具得到差分對管的的靜態(tài)工作點和恒流源的電流,注意勾選“Include detailed bias point information for nonlinear controlledsources and semiconductors.”。

   3.利用直流掃描分析(DC Sweep),掃描變量為電壓源(Voltage source)Vi,掃描類型(Sweep type)選擇為線性(Linear),掃描范圍可以定為:-500 mV到500 mV,掃描增量(Increament)設(shè)為0.1 mV,如圖5.2.2所示。運行后在PSpice窗口執(zhí)行Trace/Add Trace,單擊舔,添加縱坐標(biāo)為V(outl)和V(out2),得到該差分放大電路的傳輸特性曲線。


   1.開啟cadence/release 16.6/OrCAD Capture,新建一個仿真工程后, A3P125-VQ100在Capture的原理圖繪制窗口中繪制如圖5.2.1所示的電路。圖中所用到的器件信息如表5.2.1歷示。

   圖5.2.1  帶恒流源式差分放大電路

      

    2.利用PSpice提供的直流工作點分析(Bias Point)工具得到差分對管的的靜態(tài)工作點和恒流源的電流,注意勾選“Include detailed bias point information for nonlinear controlledsources and semiconductors.”。

   3.利用直流掃描分析(DC Sweep),掃描變量為電壓源(Voltage source)Vi,掃描類型(Sweep type)選擇為線性(Linear),掃描范圍可以定為:-500 mV到500 mV,掃描增量(Increament)設(shè)為0.1 mV,如圖5.2.2所示。運行后在PSpice窗口執(zhí)行Trace/Add Trace,單擊舔,添加縱坐標(biāo)為V(outl)和V(out2),得到該差分放大電路的傳輸特性曲線。


相關(guān)技術(shù)資料
8-27帶恒流源式差分放大電路
相關(guān)IC型號
A3P125-VQ100
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