雙光束干涉在國防工業(yè)、科學(xué)研究和國民經(jīng)濟(jì)生產(chǎn)的各個(gè)領(lǐng)域都得到廣泛的應(yīng)用，下DAC63CG/BG面簡要介紹幾種典型的干涉系統(tǒng)。

   通常作為相位調(diào)制用的雙光束光學(xué)干涉儀有：邁克爾遜( Michelson)干涉儀、馬赫一澤德( Mach-Zehnder)干涉儀、薩古納克(Sagnac)干涉儀、楊氏(Yong's)雙縫千涉裝置等，圖10.3給出了它們的原理示意圖。

   圖10.3 (a)所示是邁克爾遜干涉儀，它是干涉測量中最常用的干涉儀。其特點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡單，條紋對比度好，信噪比高。測量反射鏡M2固定在被測物體上，物體的位移、振動、變形等將使測量鏡發(fā)生移動。當(dāng)測量鏡M2的位移量為A/時(shí)，將引起測量光路的光程發(fā)生2nA/（胛為介質(zhì)折射率）的變化，引起的干涉光強(qiáng)度變化次數(shù)為Ⅳ=2nA///l,o，通過對Ⅳ的計(jì)數(shù)以及對信號的細(xì)分處理技術(shù)，就可以實(shí)現(xiàn)對位移的精密測量。由于光波波長在微米數(shù)量級，因此，這種測量技術(shù)可以達(dá)到很高的測量精度。測量分辨率可達(dá)10-13m的數(shù)量級。它的缺點(diǎn)是，輸出光束可能回饋到激光器中，使激光器不能正常工作，但可以通過設(shè)置偏振片等方法來解決。

   圖10.3 (b)所示是馬赫一澤德干涉儀，由兩片分束鏡和兩片反射鏡組成。光源發(fā)出的光經(jīng)分束鏡1分為參考光束和測量光束，這兩束光分別經(jīng)兩個(gè)反射鏡后到達(dá)分束鏡2合成疊加，產(chǎn)生兩光束之間的干涉。分束鏡2有兩束干涉光輸出，可用于多路接收器。馬赫一澤德干涉儀的顯著特點(diǎn)之一是，可以避免干涉光路中的光反射回光源，由于反射回光源的散射光很少，因此對光源的影響很小，有利于降低光源的不穩(wěn)定噪聲。此外，它能夠獲得雙路互補(bǔ)干涉輸出，便于信號接收和處理。被測參量通過測量光路引入，例如，在研究飛行器模型在風(fēng)洞中產(chǎn)生的渦流情況時(shí)，讓風(fēng)洞氣流通過測量光路中的測量段，由于氣流折射率的變化與其密度的變化成正比，而折射率的變化又使通過氣體的光束的光程發(fā)生變化，從而引起測量光路中光波位相的變化，通過測量光束與參考光束之間的干涉，其干涉圖樣便能反映出氣流折射率和密度分布的情況。