參數(shù)掃描分析(Parametric Analysis)
發(fā)布時(shí)間:2016/3/1 22:03:57 訪問(wèn)次數(shù):2090
4.1節(jié)介紹的溫度分析是在不同溫度下分析電路特性的變化。具體地說(shuō)是在用戶指定的每個(gè)溫度下均進(jìn)行一次指定的電路基本特性分析。 AD1980JST本節(jié)介紹的參數(shù)掃描分析的作用與此類似,由用戶指定一個(gè)參數(shù)的變化范圍和變化方式,PSpice軟件對(duì)指定的每個(gè)參數(shù)變化值,均執(zhí)行一次指定的電路分析。但是在參數(shù)掃描分析中,可變化的參數(shù)從溫度一種擴(kuò)展為獨(dú)立電壓源、獨(dú)立電流源、溫度、模型參數(shù)和全局參數(shù)共5種,并且還可以設(shè)置參數(shù)的變化方式,而不像溫度分析那樣只能指定幾個(gè)具體溫度值。顯然,溫度分析的任務(wù)也可以通過(guò)參數(shù)掃描分析來(lái)完成。
參數(shù)掃描分析在改進(jìn)電路設(shè)計(jì)、提升電路設(shè)計(jì)質(zhì)量方面有重要的作用,將其與波形顯示處理模塊Probe的電路設(shè)計(jì)性能分析(Performance Analysis)動(dòng)能(見(jiàn)5.5節(jié))結(jié)合在一起,可用于優(yōu)化確定元器件參數(shù)設(shè)計(jì)值。
參數(shù)掃描分析的步驟
進(jìn)行參數(shù)掃描,不但要進(jìn)行相關(guān)分析參數(shù)的設(shè)置,而且還需要在電路圖中修改相關(guān)元器件的參數(shù)設(shè)置。下面仍以圖3-1差分對(duì)電路為例,介紹如何采用參數(shù)掃描分析方法,計(jì)算電阻RC1和RC2同時(shí)變化時(shí),對(duì)小信號(hào)AC分析輸出結(jié)果V(out2)的影響.
4.1節(jié)介紹的溫度分析是在不同溫度下分析電路特性的變化。具體地說(shuō)是在用戶指定的每個(gè)溫度下均進(jìn)行一次指定的電路基本特性分析。 AD1980JST本節(jié)介紹的參數(shù)掃描分析的作用與此類似,由用戶指定一個(gè)參數(shù)的變化范圍和變化方式,PSpice軟件對(duì)指定的每個(gè)參數(shù)變化值,均執(zhí)行一次指定的電路分析。但是在參數(shù)掃描分析中,可變化的參數(shù)從溫度一種擴(kuò)展為獨(dú)立電壓源、獨(dú)立電流源、溫度、模型參數(shù)和全局參數(shù)共5種,并且還可以設(shè)置參數(shù)的變化方式,而不像溫度分析那樣只能指定幾個(gè)具體溫度值。顯然,溫度分析的任務(wù)也可以通過(guò)參數(shù)掃描分析來(lái)完成。
參數(shù)掃描分析在改進(jìn)電路設(shè)計(jì)、提升電路設(shè)計(jì)質(zhì)量方面有重要的作用,將其與波形顯示處理模塊Probe的電路設(shè)計(jì)性能分析(Performance Analysis)動(dòng)能(見(jiàn)5.5節(jié))結(jié)合在一起,可用于優(yōu)化確定元器件參數(shù)設(shè)計(jì)值。
參數(shù)掃描分析的步驟
進(jìn)行參數(shù)掃描,不但要進(jìn)行相關(guān)分析參數(shù)的設(shè)置,而且還需要在電路圖中修改相關(guān)元器件的參數(shù)設(shè)置。下面仍以圖3-1差分對(duì)電路為例,介紹如何采用參數(shù)掃描分析方法,計(jì)算電阻RC1和RC2同時(shí)變化時(shí),對(duì)小信號(hào)AC分析輸出結(jié)果V(out2)的影響.
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