在監(jiān)測模式下運行的Probe，其窗口中顯示的波形隨著模擬分析的進行而不斷得到更新。更新IRF3710S的頻次取決于圖5-4所示Probe Settings對話框內(nèi)Auto-Update Intervals子框中的選項設(shè)置。

   ①Auto:這是系統(tǒng)默認設(shè)置。由Probe根據(jù)模擬中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)情況，確定更新的頻次。

   ②Every[】sec:其中應在【】內(nèi)設(shè)置具體數(shù)值，確定每隔多少秒更新一次屏幕波形顯示。

   ③Every[】%：其中應在【]內(nèi)設(shè)置具體數(shù)值，確定每完咸模擬分析任務的多少百分比，更新一次屏幕顯示。

   說明

   ①大多數(shù)Probe分析功能都可在監(jiān)測模式下使用。但如果分析中涉及到變更X軸變量類型，將使Probe暫時離開監(jiān)測模式，處于常規(guī)工作狀態(tài)，直到X軸變量恢復原先監(jiān)測模式下的變量類型時，

Probe也隨之恢復為監(jiān)測模式。涉及到變更X軸變量類型的分析功能包括：電路特性值函數(shù)計算、電路性能分析、傅里葉變換和X軸變量設(shè)置等。

   ②一旦模擬分析結(jié)束后，Probe將離開監(jiān)測運行模式，恢復常規(guī)工作狀態(tài)。