在圖6-84所示“Select Sweep Parameters”對話框中選擇了掃描分析中需要變化的所有元ABT373器件參數(shù)并完成了掃描類型“Sweep Type”和掃描取值“Sweep Values”的設(shè)置后，單擊OK按鈕，設(shè)置的內(nèi)容即被添加到Sweep Parameters子窗口中，如圖6-86所示。

   圖6-86  “Sweep Parameters”設(shè)置結(jié)果

   在子窗口中Sweep Variable -列用于為每個(gè)元器件指定掃描層次，確定掃描分析過程中每個(gè)元器件參數(shù)的變化順序。默認(rèn)的掃描層次安排是按照在圖6-84中設(shè)置掃描元器件參數(shù)變量的順序。圖6-86顯示的是對圖6-80所示開關(guān)電路進(jìn)行掃描分析時(shí)的掃描變量設(shè)置結(jié)果。圖中一共選擇了三個(gè)掃描變量，分別是電容cl、電阻r3，以及描述輸入脈沖信號下降時(shí)間的參數(shù)tfall。其中電容cl的掃描層次是outer，表示是最外的層次。電阻r3烈及參數(shù)tfall的層次分別為innerl、inner2，表示是內(nèi)層。選擇的掃描變量越多，內(nèi)層層次也就越多，用inner后面的數(shù)字大小表示層次的深淺。lnner后面的數(shù)字從1開始順序編號，數(shù)字越大，表示層次越深。對圖6-86所示情況，inner2是最內(nèi)層。

   用戶也可以單擊“Sweep Variable”列單元格，從顯示層次名稱的下拉列表（見圖6-86）中選擇需要的層次，修改掃描層次的順序。