早期失效期出現(xiàn)在產(chǎn)品開始工作的初期，其特點是失效率高，可靠性低，且產(chǎn)品AAP6204隨著試驗時間或工作時間的增加失效率迅速下降。產(chǎn)品發(fā)生早期失效的原因主要是設計、制造工藝上的缺陷或者元件、材料、結(jié)構上的缺陷所致（例如，元器件所使用的材料純度達不到要求，或制造中混入雜質(zhì)、產(chǎn)生的缺陷和工藝控制不嚴格等）。早期失效的元器件或材料一般可以通過加強對原材料和工藝的檢驗，或通過可靠性篩選等辦法來加以淘汰。但最根本的辦法是找出導致早期失效的原因，采取相應措施加以消除，從而使失效率降低且產(chǎn)品穩(wěn)定。

   早期失效期的失效率分布函數(shù)與m<l的威布爾(Weibull)分布函數(shù)所描述的曲線相同。

   偶然失效期出現(xiàn)在早期失效期之后，是產(chǎn)品的正常工作期，其特點是失效率比早期失效率小得多，且產(chǎn)品穩(wěn)定。失效率幾乎與時間無關，可近似為一常數(shù)。通常所指的使用壽命就是這一時期，這個時期的失效由偶然不確定因素引起，失效發(fā)生的時間也是隨機的，故稱為偶然失效期。

   偶然失效期產(chǎn)品的失效規(guī)律符合指數(shù)分布規(guī)律。