可靠性試驗所要達到的目的，可歸納為如下三點。

   1)通過試驗來確定電子元器件的可靠性特性值。試驗暴露出在設(shè)計、材料、 AIC1633-3CS工藝階段存在的問題和有關(guān)數(shù)據(jù)，這對設(shè)計者、生產(chǎn)者和使用者都是非常有用的。

   2)通過可靠性鑒定試驗，可以全面考核電子元器件是否已達到預(yù)定的可靠性指標。這是電子元器件新品設(shè)計定型必須進行的步驟。

   3)通過各種可靠性試驗，了解產(chǎn)品在不同的工作、環(huán)境條件下的失效規(guī)律，確定失效式，得到失效機理，以便采取有效措施，提高產(chǎn)品可靠性。

   可靠性試驗的分類

   電子元器件常用的可靠性試驗的分類方法很多。可靠性試驗按其試驗地點和試驗方式不同可分為兩大類：現(xiàn)場試驗（工作可靠性的現(xiàn)場測量）和模擬試驗（模擬實際工作狀態(tài)的試驗）。試驗室進行的可靠性試驗多數(shù)屬于模擬試驗。模擬試驗按其試驗性質(zhì)分為破壞性試驗和非破壞性試驗。