由式(2 -66)可知，測得多ICL7667CPA普勒頻移量，即可求出物體運動的速度穢。但由于光的頻率太高，目前尚無檢測器能直接測量它的變化，因此要采用間接的光混頻技術(shù)來測量，即將兩束頻率不同的光混頻，獲取差頻信號的光學零差和外差法。

   設(shè)一束散射光與另一束參考光的頻率分別為Vsl、Ⅳ。2，它們到達光電檢測器表面的電揚強度分別為

   E1 2Eoi cos(2可ys1‘+cPi)    (2 - 67)

   E2 2 E02 cos(2TTVs2 t+c;P2)

式中，Eoi、E02為兩束光在光電檢測器表面處的振幅；9l、92為兩束光的初始相位。

   兩束光在光電檢測器表面混頻，其合成的電場強度為

   E= Ei +E2= E01 cos(21T∥.1t+Pi) +E02 cos(27TVs2 t+cP2)    (2-68)光強度與光的電場強度的平方成正比，則/cc釅，即

   西為兩束光初始相位差。式中第一項是直流分量，可用電容隔去；第二項是交流分量，正是我們希望測得的多普勒頻移。

   按照兩束入射光到達物體前兩者間是否有頻差，光波頻率檢測分為零差法和外差法。若入射至物體前，兩束光頻率相同，即頻差為零則稱為零差法。這時，當物體運動速度為零時，y。2=y。2=∥o，由式(2- 69)可知輸出信號為直流。