在外界熱、電、機(jī)械等應(yīng)力的作用下，在電子元器件內(nèi)部及界面處會(huì)發(fā)生各種物理和化學(xué)的變化及效應(yīng)， NC7S14L6X這些效應(yīng)會(huì)對(duì)電子元器件的正常工作造成不良影響或構(gòu)成威脅，嚴(yán)重時(shí)會(huì)引起失效，對(duì)此方面的研究?jī)?nèi)容稱(chēng)為可靠性物理，也叫失效物理，即產(chǎn)生失效的原因。失效物理學(xué)是可靠性工程中最主要、最基本的內(nèi)容，就是從原子和分子的角度出發(fā)，來(lái)解釋元件、材料的失效現(xiàn)象。研究它可為改進(jìn)產(chǎn)品、發(fā)明新元器件、提出新技術(shù)和新工藝提供依據(jù)。簡(jiǎn)單地說(shuō)，失效物理就是研究失效機(jī)理的學(xué)科，它是“物理加工程”的基礎(chǔ)性技術(shù)，是電子元器件可靠性技術(shù)的重要支柱和基本方向，也是目前比較薄弱的學(xué)科領(lǐng)域。

   可靠性物理的研究活動(dòng)，在1960年以后才廣泛地開(kāi)展起來(lái)。1959年美國(guó)通用電氣公司的R．P．哈夫蘭德發(fā)表了名為“失效物理基礎(chǔ)”的論文，1962年美國(guó)航空公司總結(jié)了失效物理的基本方法，編寫(xiě)了一整套關(guān)于失效物理的叢書(shū)，大大推動(dòng)了物理失效的研究活動(dòng)。1962年9月羅姆航空研制中心和伊利諾斯工藝研究所共同發(fā)起，召開(kāi)了第一屆國(guó)際電子學(xué)失效物理討論會(huì)，并發(fā)表了《電子設(shè)備故障物理論文集》。以后，這項(xiàng)工作納入到國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)的工作范疇，每年召開(kāi)～次年會(huì)，1967年更名為國(guó)際可靠性物理討論會(huì)(International Reliability Physics Symposium，IRPS)，2014年6月第52屆年會(huì)在美國(guó)夏威夷的維克樂(lè)( Waikoloa，Hawaii)舉行。