20世紀(jì)60年代是可靠性全面發(fā)展的階段，空間科學(xué)和宇航技術(shù)的發(fā)展提高了可靠性的研究水平， S60SC6M擴(kuò)展了其研究范圍。對可靠性的研究，巳經(jīng)由電子、航空、宇航i’核能等尖端工業(yè)領(lǐng)域擴(kuò)展到電機(jī)與電力系統(tǒng)、機(jī)械、動力、土木等領(lǐng)域。美國國防部及國家航空航天局( NASA)采納AGREE的可靠性研究報告中的建議，在新研制的裝備中開始推廣可靠性設(shè)計、試驗(yàn)和管理標(biāo)準(zhǔn)。為了改善可靠性工程的管理，美國國防部于1965年頒發(fā)了MIL-STD-785，即“系統(tǒng)與設(shè)備的可靠性大綱要求”，1969年修改為MIL-STD-785A。美空軍系統(tǒng)司令部決定在羅姆航空發(fā)展中心(Rome Air Development Center，RADC)組建可靠定，提出把按時間順序變化的綜合環(huán)境試驗(yàn)剖面施加在試件上，即采用后來出現(xiàn)的綜合環(huán)境可靠性試驗(yàn)方法(CERT)。這解決了由于試驗(yàn)室中使用的環(huán)境試驗(yàn)條件對使用環(huán)境模擬不真實(shí)造成兩者的MTBF值相差懸殊的問題，但其準(zhǔn)確程度取決于綜合環(huán)境試驗(yàn)條件的仿真程度。

   20世紀(jì)80年代以來，可靠性巴成為產(chǎn)品設(shè)備綜合指標(biāo)的一個重要組成部分，與性能、費(fèi)用和進(jìn)度處于同等重要的地位，幾乎所有編入美軍用標(biāo)準(zhǔn)的可靠性設(shè)計及試驗(yàn)程序都是為電子設(shè)備服務(wù)的。在技術(shù)上，主要在大規(guī)模集成電路、光電器件和軟件可靠性等方面有較大發(fā)展。為了對綜合環(huán)境可靠性試驗(yàn)進(jìn)行深入的研究。美國國防部于1980年成立了“CERT工作組”，組織相關(guān)單位對“CERT”進(jìn)行有針對性的研究。并于1981年在亞特蘭大( Atlanta)召開了“CERT”工作組會議，總結(jié)“CERT”在環(huán)境試驗(yàn)、可靠性研制增長試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、生產(chǎn)驗(yàn)收試驗(yàn)、“產(chǎn)品來源”選擇、現(xiàn)場問題處理、保障維修、環(huán)境應(yīng)力篩選等方面的應(yīng)用。美國“太平洋導(dǎo)彈試驗(yàn)中心”(Pacific Missile Test Center)，利用CERT技術(shù)，發(fā)展了空中發(fā)射導(dǎo)彈的飛行試驗(yàn)仿真技術(shù)，用試驗(yàn)室中的CERT代替原先用飛機(jī)進(jìn)行的批生產(chǎn)飛行器可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)。解決了批生產(chǎn)飛行器可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)的經(jīng)費(fèi)問題，并被指定為MII。-STD-810D中的方法523.O。MIL-STD-781C解決的是可靠性試驗(yàn)中的驗(yàn)證（統(tǒng)計）試驗(yàn)部分。而另一部分可靠性工程試驗(yàn)（環(huán)境應(yīng)力篩選和可靠性增長試驗(yàn)）在此期間也得到迅速的發(fā)展，并形成了相應(yīng)的軍用標(biāo)準(zhǔn)與手冊：MIL-STD-2164、MIL-STD-1635和MIL-HDBK-189。此時的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)還是分散制定的。至1986年和1987年，美國用軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-781D(名為“工程研制、鑒定和生產(chǎn)的可靠性試驗(yàn)”)和MIL-HDBK-781

（名為“工程研制、鑒定和生產(chǎn)的可靠性試驗(yàn)方法、方案和環(huán)境”）把有關(guān)可靠性試驗(yàn)統(tǒng)一在一起進(jìn)行規(guī)范。