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光源的實(shí)體模型(幾何造型)

發(fā)布時(shí)間:2016/11/10 22:10:11 訪問次數(shù):989

   (1)光源的實(shí)體模型(幾何造型)

    光源的實(shí)體模型又稱為幾何造型,它是系統(tǒng)大小、形狀、位置、方向、材料的幾何表示。HD74LS04P光源的實(shí)體模型可以是光學(xué)系統(tǒng)中純粹的發(fā)光部分,也可以是具有其他光學(xué)特性的參考面,如反射、折射、吸收等,即該實(shí)體模型可以簡單到一個(gè)點(diǎn)光源,也可以復(fù)雜到實(shí)際光源精確結(jié)構(gòu)表示,因此通常光源實(shí)體模型可以分為兩類:簡化模型和精確模型。光源的簡化模型都是實(shí)際光源物理構(gòu)造的幾何近似,這種近似可以是極端的,如點(diǎn)光源。無論近似的程度如何,簡化模型都缺少實(shí)際光源的空間延展,而保留這些光源幾何細(xì)節(jié)的模型就是精確模型。光源的精確模型的建立也可以根據(jù)實(shí)際光學(xué)分析、評(píng)價(jià)方法的需要去除一些實(shí)際光源具有的幾何部分。

   (2)光源的發(fā)光特性

   光源的發(fā)光特性是指在光源的實(shí)體模型上設(shè)定的發(fā)光性質(zhì)。實(shí)體模型中不同組成部分的發(fā)光性質(zhì)可以不相同,這主要體現(xiàn)在不同組成部分出射光線的出射點(diǎn)、光通量和方向不同,例如可以在實(shí)體模型中設(shè)定一個(gè)發(fā)光面,從該面出射的光線可以是均勻出射,即光強(qiáng)

恒定;也可以是光線沿不同角度出射的光通量不同,即光強(qiáng)沿角度分布。另一種設(shè)定光源發(fā)光特性的方法是直接測量。美國Radiallt Imaging公司的測量方法在國際上處于領(lǐng)先水平,該方法是將待測光源放置于一個(gè)可沿任意方向旋轉(zhuǎn)角度的支架上,在光源所在空間的整個(gè)立體角內(nèi)用CCD攝像機(jī)拍攝光源的圖像,經(jīng)過計(jì)算機(jī)的處理后這一系列圖像就構(gòu)成了該光源在不同角度的發(fā)光分布,因而就可以根據(jù)這些發(fā)光特性數(shù)據(jù)在所要構(gòu)造的光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)模型中直接進(jìn)行導(dǎo)入,繼而追跡光線。這種方法的精確度較高,適合大量光源的測定,但是整個(gè)測試系統(tǒng)的成本太高,不適合單個(gè)光源的建模。

   (1)光源的實(shí)體模型(幾何造型)

    光源的實(shí)體模型又稱為幾何造型,它是系統(tǒng)大小、形狀、位置、方向、材料的幾何表示。HD74LS04P光源的實(shí)體模型可以是光學(xué)系統(tǒng)中純粹的發(fā)光部分,也可以是具有其他光學(xué)特性的參考面,如反射、折射、吸收等,即該實(shí)體模型可以簡單到一個(gè)點(diǎn)光源,也可以復(fù)雜到實(shí)際光源精確結(jié)構(gòu)表示,因此通常光源實(shí)體模型可以分為兩類:簡化模型和精確模型。光源的簡化模型都是實(shí)際光源物理構(gòu)造的幾何近似,這種近似可以是極端的,如點(diǎn)光源。無論近似的程度如何,簡化模型都缺少實(shí)際光源的空間延展,而保留這些光源幾何細(xì)節(jié)的模型就是精確模型。光源的精確模型的建立也可以根據(jù)實(shí)際光學(xué)分析、評(píng)價(jià)方法的需要去除一些實(shí)際光源具有的幾何部分。

   (2)光源的發(fā)光特性

   光源的發(fā)光特性是指在光源的實(shí)體模型上設(shè)定的發(fā)光性質(zhì)。實(shí)體模型中不同組成部分的發(fā)光性質(zhì)可以不相同,這主要體現(xiàn)在不同組成部分出射光線的出射點(diǎn)、光通量和方向不同,例如可以在實(shí)體模型中設(shè)定一個(gè)發(fā)光面,從該面出射的光線可以是均勻出射,即光強(qiáng)

恒定;也可以是光線沿不同角度出射的光通量不同,即光強(qiáng)沿角度分布。另一種設(shè)定光源發(fā)光特性的方法是直接測量。美國Radiallt Imaging公司的測量方法在國際上處于領(lǐng)先水平,該方法是將待測光源放置于一個(gè)可沿任意方向旋轉(zhuǎn)角度的支架上,在光源所在空間的整個(gè)立體角內(nèi)用CCD攝像機(jī)拍攝光源的圖像,經(jīng)過計(jì)算機(jī)的處理后這一系列圖像就構(gòu)成了該光源在不同角度的發(fā)光分布,因而就可以根據(jù)這些發(fā)光特性數(shù)據(jù)在所要構(gòu)造的光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)模型中直接進(jìn)行導(dǎo)入,繼而追跡光線。這種方法的精確度較高,適合大量光源的測定,但是整個(gè)測試系統(tǒng)的成本太高,不適合單個(gè)光源的建模。

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