電子元器件參數(shù)的離散性較大,因此在設(shè)計和制作晶體管放大電路時,離不開測量和調(diào)試技術(shù)。 M25P32-VMF6TP在設(shè)計前應(yīng)測量所用元器件的參數(shù),為電路設(shè)計提供必要的依據(jù),在完成設(shè)計和連接以后,還必須測量和調(diào)試放大器的靜態(tài)工作點。一個正常工作的放大器,必定是理論設(shè)計與實驗相結(jié)合的產(chǎn)物。囚此,除了學(xué)習(xí)放大器的理論知識和設(shè)計方法外,還必須掌握必要的測量和調(diào)試技術(shù)。

   放大器的測量和調(diào)試一般包括:放大器靜態(tài)工作點的測量與調(diào)試、消除干擾及放大器各項動態(tài)參數(shù)的測量與調(diào)試等。

   放大器靜態(tài)工作`點的測量與調(diào)試

   靜態(tài)工作點的測量

   測量放大器的靜態(tài)工作'甙,應(yīng)在輸人信號Ui=0的情況下進行,即將放大器輸人端對地短接,然后分別選用萬用表中量程合適的直流電流擋和直流電壓擋,測量晶體管的集電極電流Ⅰc及各電極對地的電位。一般實驗中,為了避免斷開集電極,所以采用測量電壓計算出的方法。例如,只要測量出yE,即可用廴≈rE=vE/Re計算,同時也能計算出。為了減小誤差,提高測量精度,應(yīng)選用內(nèi)阻較高的直流電壓表。