電子元器件參數(shù)的離散性較大
發(fā)布時(shí)間:2016/12/24 20:13:48 訪問次數(shù):974
電子元器件參數(shù)的離散性較大,因此在設(shè)計(jì)和制作晶體管放大電路時(shí),離不開測量和調(diào)試技術(shù)。 M25P32-VMF6TP在設(shè)計(jì)前應(yīng)測量所用元器件的參數(shù),為電路設(shè)計(jì)提供必要的依據(jù),在完成設(shè)計(jì)和連接以后,還必須測量和調(diào)試放大器的靜態(tài)工作點(diǎn)。一個(gè)正常工作的放大器,必定是理論設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)相結(jié)合的產(chǎn)物。囚此,除了學(xué)習(xí)放大器的理論知識(shí)和設(shè)計(jì)方法外,還必須掌握必要的測量和調(diào)試技術(shù)。
放大器的測量和調(diào)試一般包括:放大器靜態(tài)工作點(diǎn)的測量與調(diào)試、消除干擾及放大器各項(xiàng)動(dòng)態(tài)參數(shù)的測量與調(diào)試等。
放大器靜態(tài)工作`點(diǎn)的測量與調(diào)試
靜態(tài)工作點(diǎn)的測量
測量放大器的靜態(tài)工作'甙,應(yīng)在輸人信號(hào)Ui=0的情況下進(jìn)行,即將放大器輸人端對(duì)地短接,然后分別選用萬用表中量程合適的直流電流擋和直流電壓擋,測量晶體管的集電極電流Ⅰc及各電極對(duì)地的電位。一般實(shí)驗(yàn)中,為了避免斷開集電極,所以采用測量電壓計(jì)算出的方法。例如,只要測量出yE,即可用廴≈rE=vE/Re計(jì)算,同時(shí)也能計(jì)算出。為了減小誤差,提高測量精度,應(yīng)選用內(nèi)阻較高的直流電壓表。
電子元器件參數(shù)的離散性較大,因此在設(shè)計(jì)和制作晶體管放大電路時(shí),離不開測量和調(diào)試技術(shù)。 M25P32-VMF6TP在設(shè)計(jì)前應(yīng)測量所用元器件的參數(shù),為電路設(shè)計(jì)提供必要的依據(jù),在完成設(shè)計(jì)和連接以后,還必須測量和調(diào)試放大器的靜態(tài)工作點(diǎn)。一個(gè)正常工作的放大器,必定是理論設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)相結(jié)合的產(chǎn)物。囚此,除了學(xué)習(xí)放大器的理論知識(shí)和設(shè)計(jì)方法外,還必須掌握必要的測量和調(diào)試技術(shù)。
放大器的測量和調(diào)試一般包括:放大器靜態(tài)工作點(diǎn)的測量與調(diào)試、消除干擾及放大器各項(xiàng)動(dòng)態(tài)參數(shù)的測量與調(diào)試等。
放大器靜態(tài)工作`點(diǎn)的測量與調(diào)試
靜態(tài)工作點(diǎn)的測量
測量放大器的靜態(tài)工作'甙,應(yīng)在輸人信號(hào)Ui=0的情況下進(jìn)行,即將放大器輸人端對(duì)地短接,然后分別選用萬用表中量程合適的直流電流擋和直流電壓擋,測量晶體管的集電極電流Ⅰc及各電極對(duì)地的電位。一般實(shí)驗(yàn)中,為了避免斷開集電極,所以采用測量電壓計(jì)算出的方法。例如,只要測量出yE,即可用廴≈rE=vE/Re計(jì)算,同時(shí)也能計(jì)算出。為了減小誤差,提高測量精度,應(yīng)選用內(nèi)阻較高的直流電壓表。
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