呈穩(wěn)定的空間分布。隨著相JW2HN-DC12V位差的變化，干涉條紋強度的分布表現(xiàn)為有偏置的正弦分布。可以看出，干涉條紋的強度信息和被測量的相關參數(shù)柏對應。對干涉條紋進行計數(shù)或?qū)l紋形狀進行分析處理，可以得到相應的被測信息。

   當兩束光的頻率不同，即式(10.2)中Aco≠0時，干涉條紋將以A緲的角頻率隨時間波動，形成光學拍頻信號，也稱為外差干涉信號。如果兩束光的頻率相差較大，超過光電檢測器件的頻響范圍，將觀察不到干涉條紋。在兩束光頻率相差不大（Aco較�。�的情況下，采用光電檢測器件可以檢測到干涉條紋信號，并且可以通過電信號處理直接測量拍頻信號的頻差及相位等參數(shù)，從而能以極高的靈敏度測量出相干光束本身的特征參量，形成外差檢測技術(shù)。

   一般干涉測量系統(tǒng)主要由光源、干涉系統(tǒng)、干涉信號接收系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)組成。從信息處理的角度來看，干涉測量實質(zhì)上是被測信息對光載波調(diào)制和解調(diào)的過程。各種類型的干涉儀或干涉裝置是光頻載波的調(diào)制器和解調(diào)器。光調(diào)制技術(shù)在光電測量中是極為重要的技術(shù)，它將待測物理量的有關信息以信號的形式疊加到光載波上去。我們把完成這一調(diào)制作用的裝置稱為光調(diào)制器。光調(diào)制器能使光載波的特征參量隨被測信號的變化而變化，成為調(diào)制光。這種承載信息的調(diào)制光由檢測系統(tǒng)解調(diào)，然后檢測出所需的信息。根據(jù)光調(diào)制器所調(diào)制昀光載波的特征參量不同，調(diào)制技術(shù)可以分為振幅調(diào)制(AM)、相位調(diào)制(PM)、頻率調(diào)制(FM)、偏振調(diào)制(POM)和光波譜調(diào)制(SM)。解調(diào)是調(diào)制的反過程，它能從被調(diào)制的光載波中以與被測參量成比例的光強信號或電信號形式檢測出被測參量。解調(diào)器可以是光學的、電子的或光電混合的。