其目的在于將某些可能早期失效的電路進行及時的淘汰,確保整機產(chǎn)品的可靠性。 GM71VS65163CLT6通常,由正規(guī)廠家生產(chǎn)的集成電路均會在出廠前進行多項篩選試驗、其可靠性非常高,因而用戶無需做進一步的老化或篩選。但實際情況是近年來集成電路市場魚龍混雜,殘次品較多;因此實行科學(xué)質(zhì)量管理的企業(yè),必須將元器件的使用篩選作為整機產(chǎn)品生產(chǎn)的第一道也是首要的工序,尤其在生產(chǎn)可靠性要求高的集成電路時,更需重視對元器件的使用篩選環(huán)節(jié)。

   篩選過程中,可根據(jù)集成電路的具體技術(shù)指標(biāo)進行試驗,而無需測試元器件的全部功能及其技術(shù)參數(shù)的極限;因此,使用篩選試驗具有很寬的余地。有大量經(jīng)驗可知,對于廉價元器件只需進行關(guān)鍵指標(biāo)參數(shù)的使用篩選,即可確保集成電路產(chǎn)品的可靠性,也有助于降低成本。