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檢測(cè)方法

發(fā)布時(shí)間:2017/2/20 22:14:57 訪問(wèn)次數(shù):753

   ①開(kāi)關(guān)的故障LD1117ADT25TR開(kāi)關(guān)是故障率較高的器件,其主要故障包括接觸不良、不能接通、觸點(diǎn)間存在漏電、I作狀態(tài)無(wú)法轉(zhuǎn)換等。其中,接觸不良這一故障比較多見(jiàn),其表現(xiàn)是時(shí)通時(shí)斷;造成這一故障的原因較多,比如觸點(diǎn)氧化、觸點(diǎn)打火損壞、觸點(diǎn)表面臟污等。采用無(wú)水酒精來(lái)清洗觸點(diǎn),可以解決這種故障。

   ②直觀檢測(cè)方法 觀察開(kāi)關(guān)的手柄能夠活動(dòng)自如,是否存在松動(dòng)現(xiàn)象,能夠轉(zhuǎn)換到位;觀察引腳是否被折斷,緊固螺釘是否存在松動(dòng)跡象等。

   ③測(cè)量觸點(diǎn)間的接觸電阻 其測(cè)量方法是:以萬(wàn)用表的R×1擋位,一支表筆接人開(kāi)關(guān)的刀觸點(diǎn)引腳,另一支表筆則接人其他觸點(diǎn)引腳,使開(kāi)關(guān)處于接通狀態(tài)。此時(shí)所測(cè)的電阻值應(yīng)在0,1~0,5Ω以下;若測(cè)量值大于這一范圍,則表明觸點(diǎn)之間存在接觸不良的故障。

   ④測(cè)量開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)電阻 其測(cè)量方法是:以萬(wàn)用表的R×10k擋位,一支表筆接入開(kāi)關(guān)的刀觸點(diǎn)引腳,另一支表筆則接入其他觸點(diǎn)引腳,使開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)。此時(shí)所測(cè)的電阻值應(yīng)大于幾百千歐姆;若測(cè)量值小于該值,則表明開(kāi)關(guān)觸'點(diǎn)之間存在著漏電現(xiàn)象。

   ⑤測(cè)量各個(gè)觸點(diǎn)之間的電阻 其測(cè)量方法是:以萬(wàn)用表的R×10k擋位來(lái)測(cè)量各組獨(dú)立觸點(diǎn)之間的電阻值,所測(cè)電阻值應(yīng)為∞,且各個(gè)觸點(diǎn)與外殼之間的電阻值也應(yīng)是∞,否則,表明各個(gè)觸點(diǎn)之間或觸點(diǎn)與外殼之間存在著漏電現(xiàn)象。





   ①開(kāi)關(guān)的故障LD1117ADT25TR開(kāi)關(guān)是故障率較高的器件,其主要故障包括接觸不良、不能接通、觸點(diǎn)間存在漏電、I作狀態(tài)無(wú)法轉(zhuǎn)換等。其中,接觸不良這一故障比較多見(jiàn),其表現(xiàn)是時(shí)通時(shí)斷;造成這一故障的原因較多,比如觸點(diǎn)氧化、觸點(diǎn)打火損壞、觸點(diǎn)表面臟污等。采用無(wú)水酒精來(lái)清洗觸點(diǎn),可以解決這種故障。

   ②直觀檢測(cè)方法 觀察開(kāi)關(guān)的手柄能夠活動(dòng)自如,是否存在松動(dòng)現(xiàn)象,能夠轉(zhuǎn)換到位;觀察引腳是否被折斷,緊固螺釘是否存在松動(dòng)跡象等。

   ③測(cè)量觸點(diǎn)間的接觸電阻 其測(cè)量方法是:以萬(wàn)用表的R×1擋位,一支表筆接人開(kāi)關(guān)的刀觸點(diǎn)引腳,另一支表筆則接人其他觸點(diǎn)引腳,使開(kāi)關(guān)處于接通狀態(tài)。此時(shí)所測(cè)的電阻值應(yīng)在0,1~0,5Ω以下;若測(cè)量值大于這一范圍,則表明觸點(diǎn)之間存在接觸不良的故障。

   ④測(cè)量開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)電阻 其測(cè)量方法是:以萬(wàn)用表的R×10k擋位,一支表筆接入開(kāi)關(guān)的刀觸點(diǎn)引腳,另一支表筆則接入其他觸點(diǎn)引腳,使開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)狀態(tài)。此時(shí)所測(cè)的電阻值應(yīng)大于幾百千歐姆;若測(cè)量值小于該值,則表明開(kāi)關(guān)觸'點(diǎn)之間存在著漏電現(xiàn)象。

   ⑤測(cè)量各個(gè)觸點(diǎn)之間的電阻 其測(cè)量方法是:以萬(wàn)用表的R×10k擋位來(lái)測(cè)量各組獨(dú)立觸點(diǎn)之間的電阻值,所測(cè)電阻值應(yīng)為∞,且各個(gè)觸點(diǎn)與外殼之間的電阻值也應(yīng)是∞,否則,表明各個(gè)觸點(diǎn)之間或觸點(diǎn)與外殼之間存在著漏電現(xiàn)象。





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