若設(shè)備內(nèi)部存在以上騷擾源時(shí),這些騷擾會(huì)將設(shè)備內(nèi)外各種走線當(dāng)做發(fā)射天線向外輻射電磁騷擾: AT89C51ED2-RLTUM若被測(cè)樣品為非金屬外殼,設(shè)備內(nèi)電路、各種互連走線及設(shè)備外的接口線都直接向空間輻射電磁騷擾;若被測(cè)樣品為金屬外殼,設(shè)備內(nèi)部電路的輻射騷擾會(huì)通過(guò)設(shè)備金屬殼體的孔洞縫隙對(duì)外輻射電磁騷擾,同時(shí)也會(huì)通過(guò)設(shè)備外部濾波或屏蔽不良的接口線纜向空間輻射電磁騷擾。

   輻射發(fā)射超標(biāo)分析及解決流程如圖14-1所示。

   圖14-1 輻射發(fā)射超標(biāo)分析及解決流程

   若被測(cè)樣品工作時(shí)由內(nèi)置電源供電且無(wú)外部電纜連接,則輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)超標(biāo)是由內(nèi)部電路及連接通過(guò)設(shè)備外殼泄漏所致,此時(shí)只需排除設(shè)備外殼泄漏即可解決輻射騷擾超標(biāo)的問(wèn)題。