對一般試驗等級,試驗波形為用1kHz的正弦波對未調(diào)制的射頻載波進行gO%的幅度調(diào)制所得到的射頻調(diào)幅波,JAN1N4245載波頻率范圍為150kHz~gOMHz,以模擬實際發(fā)射輻射電磁能的裝置所產(chǎn)生的干擾。為避免測試時對周圍電磁環(huán)境形成干擾,以及避免周圍環(huán)境對測試的影響,試驗一般在屏蔽室中進行。有時,屏蔽室的諧振可能會影響測量結果,此時,全電波暗室是最佳測試場地。當評估確認測量與環(huán)境互不影響時,普通測量間也可進行試驗。

   除測試場地外,CS試驗設各包括射頻信號發(fā)生器、射頻寬帶功率放大器、低通和高通濾波器、固定衰減器、耦合去耦裝置。加上其他必要配附件可組成如圖⒛-1所示的自動測試系統(tǒng)。