耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)注入時(shí), JAN1N6475US干擾信號(hào)通過電阻或電容直接注人到被測(cè)電纜上;電流鉗注入時(shí),干擾信號(hào)通過電流鉗感性耦合注入到被測(cè)電纜上;直接注人時(shí),干擾信號(hào)通過電阻注人到被測(cè)電纜的屏蔽層上。

   直接注人時(shí),對(duì)于屏蔽電纜和同軸電纜,干擾僅注人到屏蔽層;對(duì)于非屏蔽電纜,干擾注人到電纜中每一芯線上。

   如圖⒛-2所示,RFI可通過多條路徑進(jìn)人EUT,并對(duì)內(nèi)部電路形成干擾。

   首先,RFI通過三類耦合裝置注入EUT被測(cè)電纜,沿電纜通過設(shè)備外殼直接進(jìn)人EUT內(nèi)部。若該電纜為屏蔽電纜,且EUT為金屬外殼,則干擾信號(hào)會(huì)部分分流到外殼;若接口處有濾波器,則部分干擾信號(hào)會(huì)被濾波器衰減,剩余干擾信號(hào)沿電纜進(jìn)人EUT內(nèi)部形成干擾。這是CS測(cè)試產(chǎn)生干擾的主要因素c其次,當(dāng)對(duì)EUT一根電纜注入RΠ時(shí),若鄰近有其他電纜存在,則帶有干擾的被測(cè)電纜會(huì)通過空間輻射和感應(yīng)方式將RFI耦合到鄰近電纜上,再沿鄰近電纜進(jìn)入EUT內(nèi)部形成干擾。在EUT內(nèi)部,被測(cè)電纜和相鄰電纜和電路板上的電路也會(huì)同樣發(fā)生干擾耦合。若EUT為非金屬外殼,則還會(huì)出現(xiàn)外部被測(cè)電纜產(chǎn)生的干擾通過空間輻射和感容耦合進(jìn)人內(nèi)部電纜和電路的情況�？臻g輻射和耦合主要在試

頻率的高端發(fā)生。