科學技術(shù)的進步推動了光電檢測技術(shù)的發(fā)展，而新型M3216Z202T01光電檢測系統(tǒng)的出現(xiàn)無疑又給科學技術(shù)的發(fā)展注人了新鮮血液。因此，光電檢測技術(shù)的發(fā)展趨勢是：

   (1)發(fā)展納米、亞納米高精度的光電檢測新技術(shù)。

   (2)發(fā)展小型的、快速的微型光、機、電檢測系統(tǒng)。

   (3)非接觸、快速在線測量，以滿足快速增長的經(jīng)濟發(fā)展建設(shè)的需要。

   (4)向微空間三維測量技術(shù)和大空間三維測量技術(shù)發(fā)展。

   (5)發(fā)展閉環(huán)控制的光電檢測系統(tǒng)，實現(xiàn)光電測量與光電控制一體化。

   (6)向人們無法觸及的領(lǐng)域發(fā)展。

   (7)發(fā)展光電跟蹤與光電掃描技術(shù)，如遠距離的遙控、遙測、激光制導、飛行物自動跟蹤、復雜形體自動掃描測量等。