1.電阻檢測(cè)法RDA1846

   用萬(wàn)用表的歐姆擋測(cè)量集成電路各引腳對(duì)地的正、反向電阻,并與參考資料或與另一塊同類(lèi)型的、好的集成電路比較,從而判斷該集成電路的好壞。

   2.電壓檢測(cè)法

   對(duì)測(cè)試的集成電路通電,使用萬(wàn)用表的直流電壓擋,測(cè)量集成電路各引腳對(duì)地的電壓,將測(cè)出的結(jié)果與該集成電路參考資料所提供的標(biāo)準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較,從而判斷該集成電路是否有問(wèn)題。

   3.波形檢測(cè)法

   用示波器測(cè)量集成電路各引腳的波形,并與標(biāo)準(zhǔn)波形進(jìn)行比較,從而發(fā)現(xiàn)是否存在問(wèn)題。

   4.替代法

   用一塊好的同類(lèi)型的集成電路進(jìn)行替代測(cè)試。這種方法往往是在前幾種方法初步檢測(cè)之后,基本認(rèn)為集成電路有問(wèn)題時(shí)才采用。替代法的特點(diǎn)是直接、見(jiàn)效快,但拆焊麻煩,且易損壞集成電路和電路板。