電容器的失效機理是多種多樣的，它與材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能、使用環(huán)境、工作應(yīng)力條件等有著極其密切的關(guān)系，下面就電容器的主要失效機理，結(jié)合產(chǎn)品類型分別做一些分析。HZICSN74LV214X0G

   (1)潮濕引起電容器電參數(shù)漂移失效

   對于非密封的固體介質(zhì)電容器，潮溫是引起電參數(shù)漂移失效的主要原因。這是因為水分子具有很強的滲透和擴散能力，而水的介質(zhì)系數(shù)很大（介電常數(shù)為80），損耗很大，從而導(dǎo)致電容器的電氣性能急劇惡化，如絕緣電阻及耐壓強度下降，介質(zhì)損耗角正切值和電容

量增加。特別是當(dāng)環(huán)境溫度升高時，水分子的滲透和擴散能力增強，因此，高溫高濕環(huán)境對電容器的電氣性能影響更為顯著，從而導(dǎo)致產(chǎn)品失效率增加，可靠性降低。但是，潮濕對電容器的電性能影響一般是可逆的，即潮氣去除后電性能可以恢復(fù)，只有在高濕和電壓作用下發(fā)生電解作用后才不可逆。

   潮氣對電容器的影響主要有兩種方式：一種是以水膜狀態(tài)附著在產(chǎn)品表面上，另一種是滲透到介質(zhì)材料內(nèi)部或表面上。當(dāng)電容器表面涂覆的漆層不是疏水性材料或介質(zhì)材料存在縫隙、微孔等缺陷時，其影響更加顯著。

   (2)陶瓷電容器、獨石電容器和云母電容器的銀離子遷移    ‘。

   以金屬銀為電極的陶瓷電容器、獨石電容器和云母電容器在高濕度環(huán)境下，當(dāng)加電負荷時，由于表面凝聚有水膜，水分能通過微孔和隙縫進入電容器發(fā)生電解而產(chǎn)生(OH)_1，在電場和氫氧根離子的作用下離解生成銀離子(Ag+1)，銀離子和氫氧根離子結(jié)合生成氫氧化銀，氫氧化氧又分解成氧化銀和水。這種反應(yīng)促便銀離子從陽極向陰極，并在陰極邊界上形成金屬銀。由于銀離子遷移，形成樹枝狀“導(dǎo)電枝”，構(gòu)成一低阻通道，并依靠水膜形成導(dǎo)電通路，導(dǎo)致漏電增大，并最終使極板間短路。當(dāng)電容器的內(nèi)電極不采用銀而采用鈀(Pd)時，如果水不純，含有氯離子(Cl-l)，鈀也會沿此特殊通道遷移.