測試在電波暗室中進行
發(fā)布時間:2018/2/20 22:28:24 訪問次數(shù):420
測試在電波暗室中進行,用監(jiān)視器監(jiān)視試品的I作情況(或從試品引出可以說明試品△作狀態(tài)的信號至測定室,由專門儀器予以判定)c暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、WM8521H9GED/RV轉(zhuǎn)臺、試品及監(jiān)視器。I作人員、測定試品性能的儀器(信號發(fā)生器、功率計和計算機等設(shè)各在測定室里:高頻功率放大器則放在功放室里。測試中,對試品的布線非常講究,應(yīng)記錄在案,以便必要時重現(xiàn)測試結(jié)果: 電路中,機械開關(guān)對電感性負載的切換,通常會對同一電路的其他電氣和電子設(shè)各產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:脈沖成群出現(xiàn)、脈沖的重復(fù)頻率較高、脈沖波形的上升時間短暫、單個脈沖的能量較低。實踐中,因電快速瞬變脈沖群造成設(shè)備故障的概率較少,但使設(shè)備產(chǎn)生誤動作的情況經(jīng)?梢,除非有合適的對策,否則較難通過。進行電快速瞬變脈沖群測試的目的是要對電氣和電子設(shè)備建立一個評價抗擊電快速瞬變脈沖群的共同依據(jù)。測試的機理是利用脈沖群對線路分布電容能量的積累效應(yīng),當(dāng)能量積累到一定程度就可能引起線路(乃至設(shè)各)I作出錯。通常可以用測試中的線路一旦出錯,就會連續(xù)不斷地出錯,即使把脈沖電壓稍稍降低,出錯情況依然不斷的現(xiàn)象來加以解釋.
測試在電波暗室中進行,用監(jiān)視器監(jiān)視試品的I作情況(或從試品引出可以說明試品△作狀態(tài)的信號至測定室,由專門儀器予以判定)c暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、WM8521H9GED/RV轉(zhuǎn)臺、試品及監(jiān)視器。I作人員、測定試品性能的儀器(信號發(fā)生器、功率計和計算機等設(shè)各在測定室里:高頻功率放大器則放在功放室里。測試中,對試品的布線非常講究,應(yīng)記錄在案,以便必要時重現(xiàn)測試結(jié)果: 電路中,機械開關(guān)對電感性負載的切換,通常會對同一電路的其他電氣和電子設(shè)各產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:脈沖成群出現(xiàn)、脈沖的重復(fù)頻率較高、脈沖波形的上升時間短暫、單個脈沖的能量較低。實踐中,因電快速瞬變脈沖群造成設(shè)備故障的概率較少,但使設(shè)備產(chǎn)生誤動作的情況經(jīng)?梢,除非有合適的對策,否則較難通過。進行電快速瞬變脈沖群測試的目的是要對電氣和電子設(shè)備建立一個評價抗擊電快速瞬變脈沖群的共同依據(jù)。測試的機理是利用脈沖群對線路分布電容能量的積累效應(yīng),當(dāng)能量積累到一定程度就可能引起線路(乃至設(shè)各)I作出錯。通?梢杂脺y試中的線路一旦出錯,就會連續(xù)不斷地出錯,即使把脈沖電壓稍稍降低,出錯情況依然不斷的現(xiàn)象來加以解釋.
上一篇:輻射電磁場抗擾度測試目的
上一篇:對電源線的測試
熱門點擊
- ADC的性能指標(biāo)
- 了解無線遙控門鈴的發(fā)射器、接收器電路的工作原
- LISN是電源端口傳導(dǎo)騷擾測試的關(guān)鍵設(shè)備
- DAC芯片的選擇
- 記錄和整理實驗測試數(shù)據(jù),并對結(jié)果進行分析
- 高速、寬帶集成運算放大器
- 濾波器是由電感、電容、共模電感元件構(gòu)成的無源
- 調(diào)整晶體管的靜態(tài)工作點
- 金屬或多晶硅柵覆蓋源極和漏極之間的區(qū)域構(gòu)成
- 根據(jù)常用傳導(dǎo)騷擾測試標(biāo)準(zhǔn)
推薦技術(shù)資料
- AMOLED顯示驅(qū)動芯片關(guān)鍵技
- CMOS圖像傳感器技術(shù)參數(shù)設(shè)計
- GB300 超級芯片應(yīng)用需求分
- 4NP 工藝NVIDIA Bl
- GB300 芯片、NVL72
- 首個最新高端芯片人工智能服務(wù)器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究