測量電容式套管的電容量比歷史數(shù)據(jù)增大時,一般存在什么缺陷?為什么?
發(fā)布時間:2018/11/29 20:05:49 訪問次數(shù):1782
測量電容式套管的電容量比歷史數(shù)據(jù)增大時,一般存在什么缺陷?為什么? KB4540ES5-4.2
測量電容式套管的電容量比歷史數(shù)據(jù)增大時,可能有下面兩種缺陷。
(1)套管密封不良,進水受潮。因為水是強極性介質,相對介電系數(shù)很大(⒐≈80),而電容與εr成正比,所以水分的侵入使電容電量變大。
(2)電容式套管內部局部游離放電,燒壞部分絕緣,導致電極間的短路。由于套管電容量是多層電極串聯(lián)電容的總和,如果其中一層或多層被短路,相當于串聯(lián)電容的個數(shù)減小,因而電容量就比原來變大。
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測量電容式套管的電容量比歷史數(shù)據(jù)增大時,可能有下面兩種缺陷。
(1)套管密封不良,進水受潮。因為水是強極性介質,相對介電系數(shù)很大(⒐≈80),而電容與εr成正比,所以水分的侵入使電容電量變大。
(2)電容式套管內部局部游離放電,燒壞部分絕緣,導致電極間的短路。由于套管電容量是多層電極串聯(lián)電容的總和,如果其中一層或多層被短路,相當于串聯(lián)電容的個數(shù)減小,因而電容量就比原來變大。
相關技術資料- 12-15Gls設備安裝完畢后需要做哪些試驗?
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