全屬外殼屏蔽反而導(dǎo)致EMI測試失敗

    【現(xiàn)象描述】 E1S25-AB1F7-03

    如圖2.78所示的一個采用金屬外殼“屏蔽”的AC/DC電源產(chǎn)品(“屏蔽”外殼上蓋板沒有在圖中示出,“屏蔽”外殼上蓋板與下蓋板通過螺釘接觸良好,螺釘之間間距為5cm)在進(jìn)行輻射發(fā)射測試時發(fā)現(xiàn)不能通過,測試中還發(fā)現(xiàn),將電源的金屬“屏蔽”外殼去除后,測試反而能通過。采用金屬“屏蔽”外殼時的輻射發(fā)射測試結(jié)果頻譜圖和不采用金屬“屏蔽”外殼時的輻射發(fā)射測試結(jié)果頻譜圖分別如圖2.79和圖2.80所示。從圖2.79和圖2.80測試數(shù)據(jù)和曲線可以看出,兩者的測試結(jié)果相差較大。采用金屬“屏蔽”外殼時的輻射發(fā)射水平遠(yuǎn)高于不用金屬外殼時的輻射發(fā)射水平,這似乎與電磁場屏蔽理論相違背。