光耦兩端的數(shù)字地與模擬地如何接

   【現(xiàn)象描述】 K3N5C1000D-G10

   本案例是案例“的延續(xù),發(fā)生在同一產(chǎn)品中,案例甾分析并解決了EFT/B測(cè)試的問題,更改之后,使信號(hào)線E叫/B測(cè)試能通過±1kⅤ的測(cè)試,滿足了產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的要求,但是當(dāng)進(jìn)行輻射騷擾測(cè)試時(shí),問題又出現(xiàn)了,輻射騷擾測(cè)試頻譜圖如圖5.弱所示,測(cè)試不能通過。

   【原因分析】

   進(jìn)一步測(cè)試發(fā)現(xiàn),去掉信號(hào)電纜或在電纜上套上磁環(huán),輻射水平大大降低,說明主要與信號(hào)電纜有關(guān),而與電纜直接相連的模擬電路部分又不是高速電路,不存在輻射測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的頻率及諧波相關(guān)頻率。而該產(chǎn)品的數(shù)字電路部分有一部分是高速電路,其時(shí)鐘頻率為笏MHz,在測(cè)試頻譜圖中可以清楚地看到輻射較高的頻點(diǎn)都是犭MHz的倍頻。這樣,很有可能產(chǎn)生輻射的噪聲來自數(shù)字電路部分:

   在其他的案例中已經(jīng)提到過,產(chǎn)生輻射的必要條件是:

   (1)驅(qū)動(dòng)源,它可以是電壓源也可以是電流源;

   (2)天線。