ICE40HX1K-VQ100

   閃絡(luò)性故障 閃絡(luò)性故障是高阻故障的又一種極端形式。在進(jìn)行電纜絕緣預(yù)防性耐壓試驗時,泄漏電流小而平穩(wěn)。但當(dāng)試驗電壓升至某一值(尚未或已經(jīng)達(dá)到額定試驗電壓)時,泄漏電流突然增大并迅速產(chǎn)生閃絡(luò)擊穿,這種高阻故障稱為閃絡(luò)性故障。閃絡(luò)性故障的絕緣電阻極高,通常都在合格標(biāo)準(zhǔn)以上。具有閃絡(luò)性故障的電纜,短期內(nèi)在較低的電壓下(不大于閃絡(luò)擊穿電壓),其閃絡(luò)擊穿的現(xiàn)象可能會完全停止并顯現(xiàn)較好的電氣性能。

   實際上,高阻故障的特性可由高阻故障等效電路分析清楚。如圖6-16所示,泄漏電阻Rs和放電間隙了Js的相對大小變化,決定了高阻故障的特性是屬于泄漏性、閃絡(luò)性或是二者兼而有之。例如當(dāng)Rs很大(近似無窮大)時,故障點Js兩端的直流電壓可以升至額定試驗電壓而泄露電流還遠(yuǎn)達(dá)不到額定允許值。在這種情況下,如果Js的擊穿電壓大于額定試驗電壓,這個故障點在該試驗電壓下將不會被發(fā)現(xiàn);如果Js的擊穿電壓小于或等于額定試驗電壓,則耐壓試驗時Js將被擊穿,形成閃絡(luò)性故障。當(dāng)Rs較小時,在耐壓試驗中,由于Rs的存在而產(chǎn)生較大的

泄漏電流,同時該泄漏電流將在高壓試驗電源的內(nèi)阻上形成較大的壓降,從而使試驗電壓無法升高。欲繼續(xù)升高試驗電壓,勢必造成泄漏電流的劇增,甚至遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于允許值,這樣的耐壓試驗一般由人為或試驗設(shè)備繼電器保護(hù)動作而終止。在這樣的故障點中,由于Js兩端電壓較低而常常不能被擊穿,只表現(xiàn)出泄漏電流過大。這就是泄漏性故障。

   當(dāng)Rs與Js適中時,在耐壓試驗中可能會出現(xiàn)泄漏電流較大,而試驗電壓又可以升高(甚至達(dá)到額定試驗電壓),在較高的試驗電壓下也可能會出現(xiàn)閃絡(luò)擊穿。這就是我們講的通常意義的高阻故障。

  高阻故障中的等效泄漏電阻Rs減小到10zc以下時,其故障性質(zhì)就轉(zhuǎn)變?yōu)榈妥韫收稀?/span>