元器件的失效判據(jù)要明確。失效通常分致命性失效和參數(shù)漂移失效兩類。致命性失效包括電阻器開路、引線折斷、電容器短路、開路、線線折斷等。參數(shù)漂移失效包括電阻器阻值漂移超差、噪聲太大、電容器容量漂移超差、損耗角正切值超差、絕緣電阻(漏電流)值超差等。如果試驗(yàn)是針對某項(xiàng)工程進(jìn)行的,則其失效判據(jù)應(yīng)符合該工程項(xiàng)目的要求。為了弄清設(shè)備在什么使用狀態(tài)下發(fā)生故障,通常要對設(shè)備開展邊緣效應(yīng)試驗(yàn),以確定元器件參數(shù)允許的極限變化值。

KA1M0565RYDTU

   試驗(yàn)數(shù)據(jù)的整理分析在加速壽命試驗(yàn)中,當(dāng)獲得必需的失效數(shù)據(jù)后,便可以選擇適當(dāng)?shù)?/span>方法進(jìn)行分析處理,確定產(chǎn)品的失效分布函數(shù),找出產(chǎn)品的失效分布類型,計(jì)算各應(yīng)力水平下產(chǎn)品壽命分布參數(shù)的估計(jì)值和應(yīng)力水平之間加速方程參數(shù)的估計(jì)值。

   加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理

   加速壽命試驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理主要采用圖估法和數(shù)值解析法。圖估法的優(yōu)點(diǎn)是簡單易掌握、較直觀、分析快,還能監(jiān)測試驗(yàn)數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常現(xiàn)象;它的缺點(diǎn)是所得的結(jié)果因人而異,精確性較差。但是即使存在這些缺點(diǎn)而在實(shí)際工程中仍常使用它,特別是在對精確度要求不太高的場合,或在初步進(jìn)行分析時(shí)。數(shù)值解析法對小樣本試驗(yàn)很適用,精度高,但相對復(fù)雜。有很多種法,如最小二乘法、極大似然估計(jì)法、簡單線性無偏估計(jì)法、最好線性無偏估計(jì)法、簡單線性不變估計(jì)法和最好線性不變估計(jì)法等。

   這里只介紹恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)結(jié)果的圖估法和加速壽命試驗(yàn)的最好線性無偏估計(jì)法。