電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
發(fā)布時間:2019/8/11 17:23:45 訪問次數(shù):1943
電快速瞬變脈沖群抗擾度測試M34594M6-215FP
在電子電路中各種電氣和電子設(shè)備中的開關(guān)、繼電器等部件的頻繁使用,都會產(chǎn)生瞬態(tài)脈沖,對設(shè)備造成干擾,這種干擾以脈沖群形式出現(xiàn),如果電感性負(fù)載多次重復(fù)切換,脈沖群就會以相應(yīng)的時間間隔多次重復(fù)出現(xiàn),其特點是脈沖上升時間短,脈沖重復(fù)頻率高和能量低,頻譜分布較寬等。因電氣和電子設(shè)備受到干擾,可能導(dǎo)致其性能下降或失靈,產(chǎn)生誤動作,甚至造成可靠性降低。為評定產(chǎn)品對這類電快速瞬變脈沖群抗擾度的水平,一般需要進行快速瞬變脈沖群抗擾度試驗。在
國際和國內(nèi)的相關(guān)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中,對電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗制定了相應(yīng)的試驗等級。根據(jù)設(shè)備安裝使用的工作環(huán)境條件分為5個等級:
第1級:具有良好的保護環(huán)境
第2級:受保護的環(huán)境
第3級:典型的工業(yè)環(huán)境
第4級:嚴(yán)酷的工業(yè)環(huán)境
第5級:需要加以分析的特殊環(huán)境
以上每個等級的環(huán)境都有明確的設(shè)施標(biāo)準(zhǔn),執(zhí)行操作時必須嚴(yán)格遵守。該試驗劃分為實驗室試驗和設(shè)備安裝條件下的現(xiàn)場試驗兩種,必要的設(shè)備包括:接地參考平臺,耦合裝置(耦合網(wǎng)絡(luò)和耦合夾),去耦網(wǎng)絡(luò)和試驗發(fā)生器等。
電快速瞬變脈沖群抗擾度測試示意圖如圖⒓4.10所示。電快速瞬變脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的電快速瞬變脈沖群,通過耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)施加到設(shè)備的供電電源端口,耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)主要用于電源端口試驗。容性耦合夾主要用于I/0端口和通信端口試驗。測試時從脈沖幅度最低的等級施加電快速瞬變脈沖群,觀察和分析被測件的工作狀態(tài),若無影響則一直加到所選定的試驗等級。如果線路上的電流大于耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)規(guī)定的電流容量,應(yīng)該經(jīng)過一個耦合電容把試驗電壓施加到EUT上的供電電源端口。
電快速瞬變脈沖群抗擾度測試M34594M6-215FP
在電子電路中各種電氣和電子設(shè)備中的開關(guān)、繼電器等部件的頻繁使用,都會產(chǎn)生瞬態(tài)脈沖,對設(shè)備造成干擾,這種干擾以脈沖群形式出現(xiàn),如果電感性負(fù)載多次重復(fù)切換,脈沖群就會以相應(yīng)的時間間隔多次重復(fù)出現(xiàn),其特點是脈沖上升時間短,脈沖重復(fù)頻率高和能量低,頻譜分布較寬等。因電氣和電子設(shè)備受到干擾,可能導(dǎo)致其性能下降或失靈,產(chǎn)生誤動作,甚至造成可靠性降低。為評定產(chǎn)品對這類電快速瞬變脈沖群抗擾度的水平,一般需要進行快速瞬變脈沖群抗擾度試驗。在
國際和國內(nèi)的相關(guān)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中,對電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗制定了相應(yīng)的試驗等級。根據(jù)設(shè)備安裝使用的工作環(huán)境條件分為5個等級:
第1級:具有良好的保護環(huán)境
第2級:受保護的環(huán)境
第3級:典型的工業(yè)環(huán)境
第4級:嚴(yán)酷的工業(yè)環(huán)境
第5級:需要加以分析的特殊環(huán)境
以上每個等級的環(huán)境都有明確的設(shè)施標(biāo)準(zhǔn),執(zhí)行操作時必須嚴(yán)格遵守。該試驗劃分為實驗室試驗和設(shè)備安裝條件下的現(xiàn)場試驗兩種,必要的設(shè)備包括:接地參考平臺,耦合裝置(耦合網(wǎng)絡(luò)和耦合夾),去耦網(wǎng)絡(luò)和試驗發(fā)生器等。
電快速瞬變脈沖群抗擾度測試示意圖如圖⒓4.10所示。電快速瞬變脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的電快速瞬變脈沖群,通過耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)施加到設(shè)備的供電電源端口,耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)主要用于電源端口試驗。容性耦合夾主要用于I/0端口和通信端口試驗。測試時從脈沖幅度最低的等級施加電快速瞬變脈沖群,觀察和分析被測件的工作狀態(tài),若無影響則一直加到所選定的試驗等級。如果線路上的電流大于耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)規(guī)定的電流容量,應(yīng)該經(jīng)過一個耦合電容把試驗電壓施加到EUT上的供電電源端口。
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