混頻器

輸出信號頻率等于兩輸入信號頻率之和、差或為兩者其他組合的電路�；祛l器通常由非線性元件和選頻回路構成。

輸入頻率f1和來自本地振蕩器的本振頻率f2經(jīng)混頻器作用后，輸出頻率變?yōu)閒3。p f L ±qf S 。一般來講 ,其中滿足需要的僅僅是 f 3 =f 1 -f 2 或者是f 3 =f 1 -f 2 。前者產(chǎn)生中頻的方式稱為高差式混頻 , 后者稱為低差式混頻 。在這里 ,混頻過程中產(chǎn)生的一系列組合頻率分量經(jīng)過帶通濾波器即可以選擇輸出相應的中頻 ,而其他的頻率分量會得到抑制 。

混頻器相位測試方法

最常見的混頻器相位特性測試是要得到混頻器從輸入端到輸出端的時延特性或者相位非線性，關注的是混頻器的插入相移隨頻率變化的斜率，或者不同頻點上的插入相移變化量。

從第二節(jié)得出的散射矩陣模型可知，盡管已經(jīng)忽略了本振的功率對混頻器頻響特性的影響，本振信號的相位變化也將體現(xiàn)在混頻器的輸出端。因此，測試時需要根據(jù)實際情況考慮本振相位對于變頻特性的影響。

除了變頻模式存在正常和鏡像的差異之外，混頻器的工作狀態(tài)也有多種，可以是本振固定，輸入和輸出信號同步掃頻，也可以輸出/輸入信號固定，本振和輸入/輸出信號同步掃頻。本振是固定還是掃描對于混頻器的相位特性測試的影響是不同的。

如果混頻器的本振是固定的，那么本振的相位對混頻器相位傳輸特性的影響為掃頻范圍內(nèi)一個固定的相移，相當于混頻器的相位特性曲線向上或者向下平移了一定的位置，對于曲線的斜率以及不同頻點上的相位差是不影響的，那么它對于混頻器的時延特性和相位非線性也沒有影響，可以忽略不計。

如果混頻器的本振是掃描的，那么本振在不同頻點處的相位變化將會影響到混頻器相位特性曲線的斜率，進而影響到混頻器的時延。然而當混頻器本振處于掃描狀態(tài)時，其輸入或者輸出必定有一個是固定的。假設輸入信號和本振同步掃描，輸出固定，那么在輸出端增加的延遲（比如增加一段傳輸線）只能表現(xiàn)為一定的相移而無法呈現(xiàn)出相位相對頻率的函數(shù)，因此在測試時體現(xiàn)在混頻器相位特性曲線上的也僅僅是一個相移而不是斜率的變化，這對于我們關注的混頻器從輸入到輸出的時延特性是相悖的。因此，當混頻器的本振處于掃描狀態(tài)時，通常會改變測試的思路，由于器件在輸出頻率處都會有一定的帶寬，可以將輸入信號掃頻的范圍分成若干個小段，而本振變成步進的狀態(tài)，在每個分段中采用固定本振的測試方法得到每個帶寬范圍內(nèi)器件的時延，將所有分段中心頻點處的時延連起來，就能夠拼接成本振掃描狀態(tài)下的器件時延。

現(xiàn)有的混頻器時延或相位非線性測試方法主要有向下/向上變換（三混頻器）法，調(diào)制信號法（包括雙音法），矢量混頻器測試法（VMC）和相位相參接收機測試法（SMC+ Phase）等。

選件 208 能夠測量功率測量結(jié)果隨頻率的變化。功率使用 USB 功率傳感器測量。FieldFox 的信號源頻率可以與功率傳感器（接收機）頻率分開單獨設置。同時掃描信號源和接收機的頻率，掃描結(jié)果分別用兩條跡線顯示。頻偏可以是負值、零或正值。

選件 208 可以表征混頻器和轉(zhuǎn)換器等器件的標量傳輸響應。在測量頻率轉(zhuǎn)換器件的變頻損耗/增益時，必須要利用此頻偏功能，因為根據(jù)定義，被測器件的輸入頻率和輸出頻率是不同的。FieldFox 信號源仿真被測器件，并使用功率傳感器作為測量接收機。

信號源功率、增益/損耗以及接收機或輸出功率均可在 FieldFox 上顯示。

在測試有些器件時，輸出頻率可能會以信號源頻率相反的方向執(zhí)行掃描。下表顯示了信號源、接收機和偏移頻率之間的基本關系。FieldFox 分析儀配有頻偏計算器，可加快測量設置。

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