SP1216仿真測(cè)得測(cè)試芯片的失調(diào)電壓。經(jīng)推算知此時(shí)在輸入的一個(gè)端口輸入一個(gè)T = 1 μs， f = 1 MHz的時(shí)鐘信號(hào)，另一個(gè)端口輸入脈沖寬度為1 μs，脈沖序列為1000 0001 1000001 011000 0111 1110 1000 00010110000 010000 0111 1110后再對(duì)芯片的失調(diào)電壓進(jìn)行測(cè)量.

Microchip新推出的物聯(lián)網(wǎng)解決方案，建立在公司旗下以MPLAB X集成開(kāi)發(fā)環(huán)境（IDE）為中心的龐大開(kāi)發(fā)工具生態(tài)系統(tǒng)之上。MPLAB X 代碼配置器（MCC）等代碼生成器可為最小的PIC和AVR單片機(jī)快速地自動(dòng)創(chuàng)建和定制應(yīng)用代碼，Harmony軟件庫(kù)支持所有32位單片機(jī)和微處理器解決方案。

數(shù)字修調(diào)技術(shù)一般時(shí)被嵌入到電路內(nèi)部進(jìn)行修調(diào)的，并且修調(diào)輸入端口與運(yùn)放的輸入端口公用同一個(gè)引腳，實(shí)現(xiàn)引腳多功能復(fù)用設(shè)計(jì)。大致的芯片內(nèi)部連接方式。BAIS為偏置電路，A-OPAMP為放大器電路，A-TRIM輸出的修調(diào)電流端口接入到是放大器第一級(jí)的輸出導(dǎo)線上。

數(shù)字修調(diào)電路對(duì)運(yùn)放修調(diào)主要分為兩步。分別測(cè)量出PMOS差分對(duì)工作時(shí)的失調(diào)電壓與NMOS差分對(duì)工作時(shí)的失調(diào)電壓，Vos (MP1/MP2) 為P差分對(duì)管的失調(diào)電壓， Vos(其它) 為P管工作時(shí)其他晶體管帶來(lái)的失調(diào)電壓； Vos (MN1/MN2)是N差分對(duì)管的失調(diào)電壓， V′os 為N管工作時(shí)其他晶體管帶來(lái)的失調(diào)電壓。

         

輸入電壓較低時(shí)，PMOS差分對(duì)工作，失調(diào)電壓約為1.932 mV；輸入電壓較高時(shí)，NMOS差分對(duì)工作，此時(shí)，失調(diào)電壓約為-2.402 mV。在PMOS差分對(duì)管，失調(diào)電壓約為34.88 μV；NMOS差分對(duì)管工作時(shí)，失調(diào)電壓約為88.74 μV。對(duì)修調(diào)后的Vos曲線，在0 V、3.1 V、5 V左右失調(diào)電壓均有所.

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