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半橋隔離驅(qū)動芯片NSi6602驅(qū)動上下橋臂MOSFET

發(fā)布時間:2021/5/19 8:50:47 訪問次數(shù):3762

典型的AC/DC開關(guān)電源系統(tǒng)為例,PFC部分采用無橋升壓拓撲,可選用一顆NSD1025同時驅(qū)動兩路開關(guān)MOSFET,LLC的原邊可用一顆半橋隔離驅(qū)動芯片NSi6602同時驅(qū)動上下橋臂MOSFET,副邊用一顆NSD1025驅(qū)動全波同步整流MOSFET。

選用高速高可靠性的驅(qū)動IC,可以幫助電源系統(tǒng)提升效率和功率密度。

由于開關(guān)電源經(jīng)常需要硬開關(guān)驅(qū)動大功率負載,在硬開關(guān)以及布局限制的情況下,功率MOSFET往往會對驅(qū)動芯片的輸入和輸出端形成較大的地彈電壓和振蕩尖峰電壓。

制造商: Texas Instruments

產(chǎn)品種類: RS-232接口集成電路

RoHS: 詳細信息

安裝風格: SMD/SMT

封裝 / 箱體: SSOP-20

系列: TRS3222E

數(shù)據(jù)速率: 500 kb/s

激勵器數(shù)量: 2 Driver

接收機數(shù)量: 2 Receiver

電源電壓-最大: 5.5 V

電源電壓-最小: 3 V

工作電源電流: 1 mA

最小工作溫度: - 40 C

最大工作溫度: + 85 C

封裝: Tube

商標: Texas Instruments

關(guān)閉: With Shutdown

工作電源電壓: 3.3 V, 5 V

產(chǎn)品類型: RS-232 Interface IC

工廠包裝數(shù)量: 70

子類別: Interface ICs

單位重量: 156.700 mg


新型多核并行測試系統(tǒng)可支持多達 20 個內(nèi)核并行測試,并提供了基于 PXIe 模塊化接口整合功能測試。因此,其內(nèi)核配置可以靈活調(diào)整,不受電路板多聯(lián)版數(shù)量的限制,從而可以降低總體計算成本。為了擴展功能,Keysight OpenTAP支持服務(wù)賦能開放式平臺集成各種硬件。

用戶可以根據(jù)需要添加可擴展的儀器和插卡,輕松整合所有的測試資源。目前市面上的測試系統(tǒng)最多只能支持四核并行測試。

提升電源轉(zhuǎn)換效率的關(guān)鍵因素就在于開關(guān)電源中的功率部分。


(素材來源:ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝)

典型的AC/DC開關(guān)電源系統(tǒng)為例,PFC部分采用無橋升壓拓撲,可選用一顆NSD1025同時驅(qū)動兩路開關(guān)MOSFET,LLC的原邊可用一顆半橋隔離驅(qū)動芯片NSi6602同時驅(qū)動上下橋臂MOSFET,副邊用一顆NSD1025驅(qū)動全波同步整流MOSFET。

選用高速高可靠性的驅(qū)動IC,可以幫助電源系統(tǒng)提升效率和功率密度。

由于開關(guān)電源經(jīng)常需要硬開關(guān)驅(qū)動大功率負載,在硬開關(guān)以及布局限制的情況下,功率MOSFET往往會對驅(qū)動芯片的輸入和輸出端形成較大的地彈電壓和振蕩尖峰電壓。

制造商: Texas Instruments

產(chǎn)品種類: RS-232接口集成電路

RoHS: 詳細信息

安裝風格: SMD/SMT

封裝 / 箱體: SSOP-20

系列: TRS3222E

數(shù)據(jù)速率: 500 kb/s

激勵器數(shù)量: 2 Driver

接收機數(shù)量: 2 Receiver

電源電壓-最大: 5.5 V

電源電壓-最小: 3 V

工作電源電流: 1 mA

最小工作溫度: - 40 C

最大工作溫度: + 85 C

封裝: Tube

商標: Texas Instruments

關(guān)閉: With Shutdown

工作電源電壓: 3.3 V, 5 V

產(chǎn)品類型: RS-232 Interface IC

工廠包裝數(shù)量: 70

子類別: Interface ICs

單位重量: 156.700 mg


新型多核并行測試系統(tǒng)可支持多達 20 個內(nèi)核并行測試,并提供了基于 Ie 模塊化接口整合功能測試。因此,其內(nèi)核配置可以靈活調(diào)整,不受電路板多聯(lián)版數(shù)量的限制,從而可以降低總體計算成本。為了擴展功能,Keysight OpenTAP支持服務(wù)賦能開放式平臺集成各種硬件。

用戶可以根據(jù)需要添加可擴展的儀器和插卡,輕松整合所有的測試資源。目前市面上的測試系統(tǒng)最多只能支持四核并行測試。

提升電源轉(zhuǎn)換效率的關(guān)鍵因素就在于開關(guān)電源中的功率部分。


(素材來源:ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝)

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