固態(tài)硬盤市場向PCIe NVMe接口高達16通道的高分辨率PWM
發(fā)布時間:2021/8/21 18:50:06 訪問次數(shù):384
Gold P31的可靠性已通過1000小時高溫運行壽命試驗(HTOL)進行測試和驗證,平均無故障時間(MTBF)達到150萬小時。
固態(tài)硬盤市場向PCIe NVMe接口的快速過渡,以及Gold P31的誕生,突顯了SK 海力士在向全球PC OEM提供可靠的PCIe NVMe產(chǎn)品方面的領先地位。
作為內(nèi)存芯片的領先制造商,SK 海力士設計、開發(fā)并提供自己的DRAM和NAND Flash設備以及內(nèi)部SSD控制器。
制造商: Texas Instruments
產(chǎn)品種類: 電池管理
RoHS: 詳細信息
產(chǎn)品: Charge Management
電池類型: Li-Ion, Li-Polymer
輸出電壓: 3.856 V to 4.624 V
輸出電流: 3 A
工作電源電壓: 3.9 V to 13.5 V
封裝 / 箱體: DSBGA-30
安裝風格: SMD/SMT
系列: bq25600D
封裝: Cut Tape
封裝: MouseReel
封裝: Reel
商標: Texas Instruments
最大工作溫度: + 85 C
最小工作溫度: - 40 C
工作電源電流: 3 mA
產(chǎn)品類型: Battery Management
工廠包裝數(shù)量: 250
子類別: PMIC - Power Management ICs
單位重量: 200 mg

高達256KB的雙組(dual-bank)Flash存儲
高達64 KB的RAM存儲
高達16通道的高分辨率PWM
使用了增強型DMA
高速低功耗雙ADC,總采樣率高達6MSPS
模塊交叉開關(XBAR)與更靈活的事件生成器(EVTG)
支持在線升級(素材來源:eccn和ttic.如涉版權請聯(lián)系刪除。特別感謝)
Gold P31的可靠性已通過1000小時高溫運行壽命試驗(HTOL)進行測試和驗證,平均無故障時間(MTBF)達到150萬小時。
固態(tài)硬盤市場向PCIe NVMe接口的快速過渡,以及Gold P31的誕生,突顯了SK 海力士在向全球PC OEM提供可靠的PCIe NVMe產(chǎn)品方面的領先地位。
作為內(nèi)存芯片的領先制造商,SK 海力士設計、開發(fā)并提供自己的DRAM和NAND Flash設備以及內(nèi)部SSD控制器。
制造商: Texas Instruments
產(chǎn)品種類: 電池管理
RoHS: 詳細信息
產(chǎn)品: Charge Management
電池類型: Li-Ion, Li-Polymer
輸出電壓: 3.856 V to 4.624 V
輸出電流: 3 A
工作電源電壓: 3.9 V to 13.5 V
封裝 / 箱體: DSBGA-30
安裝風格: SMD/SMT
系列: bq25600D
封裝: Cut Tape
封裝: MouseReel
封裝: Reel
商標: Texas Instruments
最大工作溫度: + 85 C
最小工作溫度: - 40 C
工作電源電流: 3 mA
產(chǎn)品類型: Battery Management
工廠包裝數(shù)量: 250
子類別: PMIC - Power Management ICs
單位重量: 200 mg

高達256KB的雙組(dual-bank)Flash存儲
高達64 KB的RAM存儲
高達16通道的高分辨率PWM
使用了增強型DMA
高速低功耗雙ADC,總采樣率高達6MSPS
模塊交叉開關(XBAR)與更靈活的事件生成器(EVTG)
支持在線升級(素材來源:eccn和ttic.如涉版權請聯(lián)系刪除。特別感謝)