ESD 事件產(chǎn)生的高壓和高峰值電流會損壞 IC。其對模擬開關(guān)的影響包括可靠性隨時(shí)間推移而降低、開關(guān)性能下降、溝道漏電流增加或器件完全失效。

在 IC 生命周期的任何階段中，無論從制造到測試，還是在搬 運(yùn)、OEM 用戶和Z終用戶操作過程中，都可能會發(fā)生 ESD 事 件。為了評估 IC 對各種 ESD 事件的魯棒性，確定了對下列仿真應(yīng)力環(huán)境進(jìn)行建模的電子脈沖電路：人體模型 （HBM）、感應(yīng)放電模型 （FICDM）和機(jī)器放電模型 （MM）。

在生產(chǎn)、組裝和儲存過程中，可以采用維持靜電安全工作區(qū)域等 ESD 防護(hù)方法來避免累計(jì)任何電荷。

制造商:Microchip產(chǎn)品種類:開關(guān)穩(wěn)壓器RoHS: 安裝風(fēng)格:SMD/SMT封裝 / 箱體:MLF-24拓?fù)浣Y(jié)構(gòu):Buck封裝:Reel封裝:Cut Tape封裝:MouseReel商標(biāo):Microchip Technology / Micrel濕度敏感性:Yes產(chǎn)品類型:Switching Voltage Regulators5000子類別:PMIC - Power Management ICs零件號別名:MIC22705YML TR

業(yè)界最小(1.4cc)百萬象素級CCD照相機(jī)模塊,

業(yè)界最薄(9.7mm)百萬象素級CCD照相機(jī)模塊,

集成了幀隔行傳輸(FIT)功能,使它能在2lux的照明的情況下也能攝像,

有強(qiáng)大的電子變焦功能,

還提供能近距離攝像的LZOP3726.

(素材來源：ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝）