ADG5412防閂鎖器件可以在1-ms脈沖上耐受500mA而不發(fā)生失效
發(fā)布時間:2021/11/3 21:47:21 訪問次數(shù):141
內(nèi)部寄生電阻發(fā)展出足以維持閂鎖條件的壓降之前該過壓條件下 I/O 引腳扇入扇出的過電流量，劃分輸入和輸出對閂鎖的敏感性性。
ADG5412防閂鎖系列中的器件可以在1-ms 脈沖上耐受500mA 而不發(fā)生失效。ADI公司的閂鎖測 試是根據(jù) EIA/JEDEC-78（IC 閂鎖測試）來執(zhí)行的。
ESD是器件上一種Z為常見的電壓瞬變現(xiàn)象，具體定義為“帶有不同電勢差的兩個物體之間發(fā)生的單次快速高電流靜電電荷轉(zhuǎn)移。
兩種模塊的樣品將在2003年九月提供.批量生產(chǎn)計劃在2003年十月開始.
直到現(xiàn)在,CIF或VGA格式是大多數(shù)手機照相機的標準.這些低質(zhì)量模塊對手機攝取圖像和電郵圖像是足夠用的.但要,隨著高質(zhì)量圖像打印和在PC上觀看圖像的需要,在手機中增加象素成為必然的結(jié)果.
更進一步,當前手機的標準尺寸和厚度還需維持,這就會導致必須使用緊湊/瘦身的百萬級象素CCD照相機模塊.
因此，晶體管之間的寄生PN結(jié)被消除，從而生產(chǎn)出完全不會發(fā)生閂鎖效應的開關電路.
(素材來源：ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝）
內(nèi)部寄生電阻發(fā)展出足以維持閂鎖條件的壓降之前該過壓條件下 I/O 引腳扇入扇出的過電流量，劃分輸入和輸出對閂鎖的敏感性性。
ADG5412防閂鎖系列中的器件可以在1-ms 脈沖上耐受500mA 而不發(fā)生失效。ADI公司的閂鎖測 試是根據(jù) EIA/JEDEC-78（IC 閂鎖測試）來執(zhí)行的。
ESD是器件上一種Z為常見的電壓瞬變現(xiàn)象，具體定義為“帶有不同電勢差的兩個物體之間發(fā)生的單次快速高電流靜電電荷轉(zhuǎn)移。
兩種模塊的樣品將在2003年九月提供.批量生產(chǎn)計劃在2003年十月開始.
直到現(xiàn)在,CIF或VGA格式是大多數(shù)手機照相機的標準.這些低質(zhì)量模塊對手機攝取圖像和電郵圖像是足夠用的.但要,隨著高質(zhì)量圖像打印和在PC上觀看圖像的需要,在手機中增加象素成為必然的結(jié)果.
更進一步,當前手機的標準尺寸和厚度還需維持,這就會導致必須使用緊湊/瘦身的百萬級象素CCD照相機模塊.
因此，晶體管之間的寄生PN結(jié)被消除，從而生產(chǎn)出完全不會發(fā)生閂鎖效應的開關電路.
(素材來源：ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝）
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