單芯片SoC解決方案及通過縮短維修時(shí)間和降低成本
發(fā)布時(shí)間:2022/2/2 21:52:53 訪問次數(shù):563
新的SMP8652媒體處理器SoC。SMP8652的設(shè)計(jì)為薄型客戶端應(yīng)用提供最佳的價(jià)格/性能配置,這些應(yīng)用包括:IPTV機(jī)頂盒(STB)、數(shù)字媒體適配器(DMA)以及混合的電纜/IP薄型客戶端。
SMP8652媒體處理器集成了功能強(qiáng)大多媒體處理、健全內(nèi)容安全系統(tǒng)、多個(gè)片上CPU以及完整的系統(tǒng)外設(shè),是完整的下一代單芯片SoC解決方案。
芯片上處理器和存儲(chǔ)控制器的組合為下一代客戶中間件和軟件堆棧提供了所需空間。同時(shí),高速32位數(shù)據(jù)路徑的最小存儲(chǔ)占位面積的建立使該器件具有小外型尺寸、低BOM(材料清單)成本和低功耗。
在當(dāng)今復(fù)雜的汽車電氣系統(tǒng),采用具有用戶功能內(nèi)容的LAN89218高性能以太網(wǎng)接口,可以更快幫助診斷問題、降低軟件維護(hù)時(shí)間,以及通過縮短維修時(shí)間和降低成本,最終給客戶帶來更大的滿意度。
當(dāng)我們從需求面去看時(shí),卻是截然相反的。眾所周知,消費(fèi)類芯片對(duì)失效率的容忍度是最高的,每百萬顆芯片里面大概可以有100顆失效,也就是100個(gè)DPM。
這兩種看似截然不同的趨勢(shì),實(shí)則告訴我們的是同一個(gè)需求,那就是ATE測(cè)試機(jī)一定要“測(cè)得準(zhǔn)”。

測(cè)試時(shí)間增加根據(jù)芯片類型大概可分成兩類:
第一類是處理器級(jí)別的大數(shù)字芯片,比如DPU,它的最大測(cè)試時(shí)間來自于Scan和BIST測(cè)試,與2015年相比,現(xiàn)在同樣測(cè)試下的測(cè)試時(shí)間是當(dāng)時(shí)的2.5倍,未來可能是3倍。
第二類是模擬和射頻芯片,它的最大測(cè)試時(shí)間來自于模擬測(cè)試和Trim測(cè)試,Trim測(cè)試就是在測(cè)試之前內(nèi)部需要先做trim調(diào)整,調(diào)整完之后再對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試,這是額外的時(shí)間支出。
此外,隨著芯片的復(fù)雜化,每顆芯片的Die size不斷增加,失效的概率也隨之增加。當(dāng)這兩個(gè)因素一迭加,以800 mm2的die size wafer為例,初次yield不到10%。
(素材來源:轉(zhuǎn)載自網(wǎng)絡(luò),如涉版權(quán)請(qǐng)聯(lián)系刪除,特別感謝)
新的SMP8652媒體處理器SoC。SMP8652的設(shè)計(jì)為薄型客戶端應(yīng)用提供最佳的價(jià)格/性能配置,這些應(yīng)用包括:IPTV機(jī)頂盒(STB)、數(shù)字媒體適配器(DMA)以及混合的電纜/IP薄型客戶端。
SMP8652媒體處理器集成了功能強(qiáng)大多媒體處理、健全內(nèi)容安全系統(tǒng)、多個(gè)片上CPU以及完整的系統(tǒng)外設(shè),是完整的下一代單芯片SoC解決方案。
芯片上處理器和存儲(chǔ)控制器的組合為下一代客戶中間件和軟件堆棧提供了所需空間。同時(shí),高速32位數(shù)據(jù)路徑的最小存儲(chǔ)占位面積的建立使該器件具有小外型尺寸、低BOM(材料清單)成本和低功耗。
在當(dāng)今復(fù)雜的汽車電氣系統(tǒng),采用具有用戶功能內(nèi)容的LAN89218高性能以太網(wǎng)接口,可以更快幫助診斷問題、降低軟件維護(hù)時(shí)間,以及通過縮短維修時(shí)間和降低成本,最終給客戶帶來更大的滿意度。
當(dāng)我們從需求面去看時(shí),卻是截然相反的。眾所周知,消費(fèi)類芯片對(duì)失效率的容忍度是最高的,每百萬顆芯片里面大概可以有100顆失效,也就是100個(gè)DPM。
這兩種看似截然不同的趨勢(shì),實(shí)則告訴我們的是同一個(gè)需求,那就是ATE測(cè)試機(jī)一定要“測(cè)得準(zhǔn)”。

測(cè)試時(shí)間增加根據(jù)芯片類型大概可分成兩類:
第一類是處理器級(jí)別的大數(shù)字芯片,比如DPU,它的最大測(cè)試時(shí)間來自于Scan和BIST測(cè)試,與2015年相比,現(xiàn)在同樣測(cè)試下的測(cè)試時(shí)間是當(dāng)時(shí)的2.5倍,未來可能是3倍。
第二類是模擬和射頻芯片,它的最大測(cè)試時(shí)間來自于模擬測(cè)試和Trim測(cè)試,Trim測(cè)試就是在測(cè)試之前內(nèi)部需要先做trim調(diào)整,調(diào)整完之后再對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試,這是額外的時(shí)間支出。
此外,隨著芯片的復(fù)雜化,每顆芯片的Die size不斷增加,失效的概率也隨之增加。當(dāng)這兩個(gè)因素一迭加,以800 mm2的die size wafer為例,初次yield不到10%。
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