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兩光柵沿柵線的垂直方向16位分辨率及80dB動(dòng)態(tài)范圍

發(fā)布時(shí)間:2022/4/17 15:37:58 訪問(wèn)次數(shù):461

110納米和180納米BCD平臺(tái)為需要電源管理IC(PMIC)、電池管理IC(BMIC)和快速無(wú)線充電IC的應(yīng)用,提供一流的芯片設(shè)計(jì)套件和集成產(chǎn)品解決方案。

BCD技術(shù)提供操作電壓高達(dá)100V的電源 IC 設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)卓越的效能,并高度整合類(lèi)比電路和數(shù)字內(nèi)容,以及電力元件和嵌入式的NVM。

Tanner軟件提供先進(jìn)、高性能且易于使用的電路圖和Layout編輯器,并與一流的電路仿真器和 Calibre®軟件相集成,Calibre是業(yè)界領(lǐng)先的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查、寄生參數(shù)提取和物理驗(yàn)證解決方案。Tanner軟件擁有30年的市場(chǎng)成功經(jīng)驗(yàn),已幫助數(shù)千項(xiàng)設(shè)計(jì)成功流片。

由光柵的大量刻線形成,對(duì)光柵刻線的刻劃誤差有平均作用,從而能在很大程度上消除光柵刻線不均勻造成的誤差。當(dāng)兩光柵沿柵線的垂直方向做相對(duì)移動(dòng)時(shí),莫爾條紋沿光柵刻線方向移動(dòng);光柵反向移動(dòng),莫爾條紋亦反向移動(dòng)。

BGY284模塊出了小尺寸以為,其中還包括了功率控制電路,采用BGY284模塊,生產(chǎn)商可以節(jié)約30%的電路板面積,也可以大約節(jié)約30個(gè)外圍元器件。

磁柵位置檢測(cè)原理 磁柵也稱(chēng)磁尺。由磁柵、磁頭和信息處理電路組成位置檢測(cè)裝置。

ID500廣泛應(yīng)用于紡織、包裝、塑料、印刷、機(jī)床、微電子、自動(dòng)化產(chǎn)品線、精密機(jī)械設(shè)備等配套領(lǐng)域。多軸伺服驅(qū)動(dòng)器FOC電流環(huán)加速應(yīng)用的開(kāi)發(fā),萊迪思低功耗、可靠的可編程FPGA器件為其贏得了寶貴的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。

磁柵位置檢測(cè)裝置的工作過(guò)程 靜磁頭的結(jié)構(gòu),它有兩組繞組N1和N2。

電流取樣式delta-sigma調(diào)制器,特點(diǎn)是它擁有16位分辨率及80dB動(dòng)態(tài)范圍,從而進(jìn)一步拓寬了其高性能發(fā)動(dòng)機(jī)控制轉(zhuǎn)換產(chǎn)品的范圍。ADS1202 提供高精度電流測(cè)量,適用于發(fā)動(dòng)機(jī)控制應(yīng)用、工業(yè)過(guò)程控制、儀表、智能發(fā)送器、便攜式儀器及秤重等。


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