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排電阻器已損壞PoE端口或需要大功率DC總線保護(hù)的應(yīng)用

發(fā)布時(shí)間:2022/11/1 17:48:00 訪問次數(shù):119

STEVAL-ASTRA1B 評(píng)估板具有智能電源和電池管理架構(gòu),可幫助開發(fā)人員最大限度地延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間。該架構(gòu)包括ST1PS02超低靜態(tài)電流同步降壓轉(zhuǎn)換器、STBC03鋰電充電控制器和TCPP01-M12 USB-C端口保護(hù)芯片。

2kA(8/20μs)浪涌處理能力的PTVS設(shè)備,緊湊的封裝和更高的浪涌保護(hù)要求是廣泛的下一代AC和DC線路保護(hù)應(yīng)用的趨勢(shì),例如暴露的PoE端口或需要大功率DC總線保護(hù)的應(yīng)用,包括5G小基站、無線基站中的遠(yuǎn)端射頻單元(RRU)和基帶單元(BBU)。

兩款全新PTVS表貼式封裝系列產(chǎn)品,我們?yōu)樵O(shè)計(jì)人員提供了一項(xiàng)更小巧的解決方案,相較于現(xiàn)有的 PTVS裝置,它們具有相同的保護(hù)水平,而現(xiàn)有的PTVS裝置通常僅能采用笨重的模壓封裝或通孔插入式封裝,PTVS系列有助于客戶實(shí)現(xiàn)更小、更緊湊的布局,除了減少多達(dá)50%的尺寸外,還可以降低成本。

第1步:在檢測(cè)貼片電阻器時(shí)需注意其內(nèi)部結(jié)構(gòu),圖中電阻器的標(biāo)注為103,即阻值為10×103Ω。

貼片排電阻器的檢測(cè)方法,檢測(cè)到的4組數(shù)據(jù)均應(yīng)與標(biāo)稱阻值接近,若有一組檢測(cè)到的結(jié)果與標(biāo)稱阻值相差甚遠(yuǎn),則說明該排電阻器已損壞。

壓敏電阻器的檢測(cè)方法,用萬用表的R×1k或R*10k擋,將兩表筆分別加在壓敏兩端,測(cè)出壓敏電阻器的阻值,交換兩表筆再測(cè)量一次。若兩次測(cè)得的阻值均為無窮大,說明被測(cè)壓敏電阻器質(zhì)量合格,否則證明其漏電嚴(yán)重而不可使用。

固定電阻器的代換方法,壓敏電阻器的檢測(cè),固定電阻器的代換方法。


光敏電阻器的代換方法,首先滿足應(yīng)用電路所需的光譜特性,其次要求代換電阻器的主要參數(shù)要相近,偏差不能超過允許范圍,光譜特性不同的光敏電阻器,例如紅外光光敏電阻器、可見光光敏電阻器、紫外光光敏電阻器,即使阻值范圍相同,也不能相互代換。

光敏電阻器的代換方法,主板電路貼片電阻器現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量實(shí)操.

主板中常用的電阻器主要為貼片電阻器、貼片排電阻器和貼片熔斷電阻器等,對(duì)于這些電阻器,一般可采用在路檢測(cè)(直接在電路板上檢測(cè)),也可采用開路檢測(cè)(元器件不在電路中或者電路斷開無電流情況下進(jìn)行檢測(cè)),將實(shí)測(cè)主板中的電阻器。




STEVAL-ASTRA1B 評(píng)估板具有智能電源和電池管理架構(gòu),可幫助開發(fā)人員最大限度地延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間。該架構(gòu)包括ST1PS02超低靜態(tài)電流同步降壓轉(zhuǎn)換器、STBC03鋰電充電控制器和TCPP01-M12 USB-C端口保護(hù)芯片。

2kA(8/20μs)浪涌處理能力的PTVS設(shè)備,緊湊的封裝和更高的浪涌保護(hù)要求是廣泛的下一代AC和DC線路保護(hù)應(yīng)用的趨勢(shì),例如暴露的PoE端口或需要大功率DC總線保護(hù)的應(yīng)用,包括5G小基站、無線基站中的遠(yuǎn)端射頻單元(RRU)和基帶單元(BBU)。

兩款全新PTVS表貼式封裝系列產(chǎn)品,我們?yōu)樵O(shè)計(jì)人員提供了一項(xiàng)更小巧的解決方案,相較于現(xiàn)有的 PTVS裝置,它們具有相同的保護(hù)水平,而現(xiàn)有的PTVS裝置通常僅能采用笨重的模壓封裝或通孔插入式封裝,PTVS系列有助于客戶實(shí)現(xiàn)更小、更緊湊的布局,除了減少多達(dá)50%的尺寸外,還可以降低成本。

第1步:在檢測(cè)貼片電阻器時(shí)需注意其內(nèi)部結(jié)構(gòu),圖中電阻器的標(biāo)注為103,即阻值為10×103Ω。

貼片排電阻器的檢測(cè)方法,檢測(cè)到的4組數(shù)據(jù)均應(yīng)與標(biāo)稱阻值接近,若有一組檢測(cè)到的結(jié)果與標(biāo)稱阻值相差甚遠(yuǎn),則說明該排電阻器已損壞。

壓敏電阻器的檢測(cè)方法,用萬用表的R×1k或R*10k擋,將兩表筆分別加在壓敏兩端,測(cè)出壓敏電阻器的阻值,交換兩表筆再測(cè)量一次。若兩次測(cè)得的阻值均為無窮大,說明被測(cè)壓敏電阻器質(zhì)量合格,否則證明其漏電嚴(yán)重而不可使用。

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光敏電阻器的代換方法,首先滿足應(yīng)用電路所需的光譜特性,其次要求代換電阻器的主要參數(shù)要相近,偏差不能超過允許范圍,光譜特性不同的光敏電阻器,例如紅外光光敏電阻器、可見光光敏電阻器、紫外光光敏電阻器,即使阻值范圍相同,也不能相互代換。

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主板中常用的電阻器主要為貼片電阻器、貼片排電阻器和貼片熔斷電阻器等,對(duì)于這些電阻器,一般可采用在路檢測(cè)(直接在電路板上檢測(cè)),也可采用開路檢測(cè)(元器件不在電路中或者電路斷開無電流情況下進(jìn)行檢測(cè)),將實(shí)測(cè)主板中的電阻器。




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