800MHz模擬控制的可變增益放大器(VGA)LTC6412，該器件具有卓越的噪聲和失真性能、增益符合性以及增益平坦度。該器件的增益控制是高度線性的。

LTC6412具有僅為0.45dB有保證的最大符合性誤差，這比同類解決方案有極大的改進(jìn)。

3階輸出截取點(OIP3)在240MHz時為35dBm。LTC6412還在整個增益范圍內(nèi)實現(xiàn)了恒定輸出噪聲水平，在最大增益設(shè)定值時噪聲指數(shù)(NF)僅為10dB。這導(dǎo)致恒定SFDR特性，在整個增益控制范圍內(nèi)，于240MHz時保持高于120dB。因此LTC6412非常適用于接收器IF鏈路中的自動增益控制(AGC)。

400系列返修臺式平臺，該系統(tǒng)可以應(yīng)對無鉛返修應(yīng)用的挑戰(zhàn)。400系列為去錫和通孔連接器配置了一系列新近開發(fā)的返修解決方案。

我們一直與多家客戶合作，為返修通孔連接器開發(fā)了一種對流工藝。再加上該解決方案中最新增強的焊料去除功能，客戶可以大大提高一個或多個返修周期的可靠性。

VJ Electronix的Summit 1800為撿拾和頂部加熱裝置高度提供了獨立的程控運動功能，撿拾運動可以精確控制貼裝力無需用力就可以移出元件，極大方便了客戶的返修時間。

輔助這一掃描測試解決方案的其他產(chǎn)品包括用于存儲器內(nèi)建自測試（BIST）的Mentor MBISTArchitect、BSDArchitect 1149.1兼容邊界掃描工具和YieldAssist故障診斷良品率監(jiān)控工具。

65nm和40nm工藝提供了非常全面的測試解決方案，Mentor的測試工具提供了一整套工藝制造測試流程，滿足了我們客戶的要求。借助這套流程，我們可為客戶提供與公司65nm和40nm工藝節(jié)點高級技術(shù)相匹配的測試工具。這樣就可在實現(xiàn)工藝制造測試流程中摒棄一些猜測性工作。

完整測試流程提供高級測試功能UMC流程提供一系列高級功能，解決在測試高級IC器件時的新需求。

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